參考價(jià)格
面議型號(hào)
S-Sorb X700品牌
國(guó)儀精測(cè)產(chǎn)地
中國(guó)樣本
暫無(wú)誤差率:
/分辨率:
/重現(xiàn)性:
/儀器原理:
靜態(tài)容量法分散方式:
/測(cè)量時(shí)間:
/測(cè)量范圍:
吸附溫度:室溫~100℃;控溫精度:0.1℃ 蒸汽源溫度:室溫~105℃,;控溫精度:0.1℃看了國(guó)儀蒸汽吸附儀的用戶又看了
虛擬號(hào)將在 180 秒后失效
使用微信掃碼撥號(hào)
1,、 產(chǎn)品簡(jiǎn)介
蒸汽吸附儀S-Sorb X700系列,純“蒸”吸附,,冷凝無(wú)蹤,,核心系統(tǒng)器件125℃下恒溫,耐壓耐腐蝕型蒸汽發(fā)生器,,系統(tǒng)漏氣率低至1x10-11Pa.m3/s
全等溫線測(cè)定+全油浴恒溫+耐腐蝕管路系統(tǒng),,三大特點(diǎn)滿足多種需求。
三大參量重新定義水蒸汽吸附儀:
高溫恒溫系統(tǒng):125℃,,耐溫型壓力傳感器+高溫型氣動(dòng)膜片閥高溫恒溫系統(tǒng)更高水蒸汽吸附壓強(qiáng):0.2MPa,,高溫恒溫系統(tǒng)+高壓型蒸汽發(fā)生器
導(dǎo)熱更佳的油浴恒溫:0.05℃,高導(dǎo)熱率導(dǎo)熱油+油微循環(huán)系統(tǒng)
三大技術(shù)創(chuàng)新,,助力穩(wěn)定運(yùn)行:
耐壓耐腐蝕樣品管系統(tǒng),,微循環(huán)油浴恒溫系統(tǒng),耐腐蝕的微焊管路系統(tǒng)
2,、 產(chǎn)品參數(shù)
測(cè)試通量:3站測(cè)試
測(cè)試功能:0.35nm-500nm 可測(cè)試BET表面積,、t-Plot、BJH,、HK,、SF
測(cè)試氣體:水蒸氣、一氧化碳,、氨氣等其他以及常溫下為液體的物質(zhì)(有強(qiáng)烈腐蝕,、劇毒、危險(xiǎn)氣體除外)
真空泵:二級(jí)旋片機(jī)械泵,,極限真空度1.5*10-3Torr可選配分子泵
壓力傳感器:量程:3Bar分辨率:0.002%FS,;準(zhǔn)確度:0.02%FS;可選配10Torr,、0.1Torr量程壓力傳感器
吸附溫度:室溫~100℃,;控溫精度:0.1℃
蒸汽源溫度:室溫~105℃;控溫精度:0.1℃
油浴控溫:油浴控溫系統(tǒng),,控溫精度:0.05℃
暫無(wú)數(shù)據(jù),!
摘要:硬脂酸鎂是制藥界廣泛應(yīng)用的藥物輔料,因?yàn)榫哂辛己玫目拐承?、增流性和?rùn)滑性在制劑生產(chǎn)中具有十分重要的作用,,作為常用的藥用輔料潤(rùn)滑劑,比表面積對(duì)硬脂酸鎂有很大的影響,,硬脂酸鎂的比表面積越大,,其極性越
2022-07-05
陶瓷材料具有高熔點(diǎn),、高硬度、高耐磨性,、耐氧化等一系列特點(diǎn),,被廣泛應(yīng)用于電子工業(yè)、汽車工業(yè),、紡織,、化工、航空航天等國(guó)民經(jīng)濟(jì)的各個(gè)領(lǐng)域,。陶瓷材料的物理性能很大程度上取決于其微觀結(jié)構(gòu),,是掃描電鏡重要的應(yīng)用領(lǐng)
2022-09-27
4月9日,“國(guó)儀電鏡論壇暨內(nèi)蒙古工業(yè)大學(xué)國(guó)產(chǎn)電鏡技術(shù)講座”在內(nèi)蒙古工業(yè)大學(xué)實(shí)驗(yàn)管理中心(測(cè)試中心)成功舉辦,,吸引了來(lái)自周邊院校的多位電鏡領(lǐng)域?qū)<覍W(xué)者參與,。本次論壇以“國(guó)產(chǎn)電鏡的發(fā)展與機(jī)遇”為主題,聚焦
4月1日,,由湖南大學(xué)分析測(cè)試中心與國(guó)儀量子聯(lián)合主辦,,深圳速普儀器有限公司、長(zhǎng)沙凱普樂科技有限責(zé)任公司協(xié)辦的“國(guó)儀電鏡論壇暨湖南大學(xué)電子顯微技術(shù)交流會(huì)”在湖南大學(xué)分析測(cè)試中心成功舉行,。本次會(huì)議吸引了湖南
引言 為更好地激勵(lì)在科研領(lǐng)域辛勤探索、努力拼搏的科研工作者,,同時(shí)助力光探測(cè)磁共振事業(yè)發(fā)展,,國(guó)儀量子決定對(duì)使用本公司ODMR系列產(chǎn)品,發(fā)表高水平學(xué)術(shù)文章的科研工作者給予現(xiàn)金獎(jiǎng)勵(lì),。2025年OD
國(guó)儀量子電鏡在芯片金屬柵極刻蝕殘留檢測(cè)的應(yīng)用報(bào)告一,、背景介紹 在芯片制造工藝中,金屬柵極刻蝕是構(gòu)建晶體管關(guān)鍵結(jié)構(gòu)的重要環(huán)節(jié),。精確的刻蝕工藝能夠確保金屬柵極的尺寸精度和形狀完整性,,對(duì)芯片的性能
國(guó)儀量子電鏡在芯片后道 Al 互連電遷移空洞檢測(cè)的應(yīng)用報(bào)告一、背景介紹 隨著芯片集成度不斷攀升,,芯片后道 Al 互連技術(shù)成為確保信號(hào)傳輸與芯片功能實(shí)現(xiàn)的關(guān)鍵環(huán)節(jié),。在芯片工作時(shí),Al 互連導(dǎo)線
國(guó)儀量子電鏡在芯片鈍化層開裂失效分析的應(yīng)用報(bào)告一,、背景介紹在半導(dǎo)體芯片制造領(lǐng)域,,芯片鈍化層扮演著至關(guān)重要的角色。它作為芯片的 “防護(hù)鎧甲”,覆蓋在芯片表面,,隔絕外界環(huán)境中的濕氣,、雜質(zhì)以及機(jī)械應(yīng)力等不利