參考價(jià)格
面議型號(hào)
SU8700品牌
日立產(chǎn)地
日本樣本
暫無探測(cè)器:
鏡筒內(nèi)背散射電子探測(cè)器加速電壓:
0.1 ~ 30 kV電子槍:
肖特基場(chǎng)發(fā)射電子源電子光學(xué)放大:
20 ~ 2,000,000 x光學(xué)放大:
20 ~ 2,000,000 x分辨率:
0.8 nm@15 kV看了超高分辨肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8700的用戶又看了
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隨著快速數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理技術(shù)的發(fā)展,,電子顯微鏡進(jìn)入了一個(gè)不僅重視數(shù)據(jù)質(zhì)量,,而且注重其采集過程的時(shí)代。SU8700作為一款面向新時(shí)代的SEM,,在日立電鏡貫有的高圖像質(zhì)量和高穩(wěn)定性的基礎(chǔ)上,,增加了包括自動(dòng)獲取數(shù)據(jù)等高通量的功能。
日立的高亮度肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍可同時(shí)支持超高分辨觀察和快速微束分析,。在不使用樣品臺(tái)減速的情況下,,僅用0.1 kV的低加速電壓仍可進(jìn)行高分辨觀察,適應(yīng)更多應(yīng)用場(chǎng)景,。同時(shí),,可搭配多種新型探測(cè)器和其他豐富的選配項(xiàng),滿足更多的觀測(cè)需求,。
EM Flow Creator 允許客戶創(chuàng)建連續(xù)圖像采集的自動(dòng)化工作流程,。EM Flow Creator將不同的SEM功能定義為圖形化的模塊,如設(shè)置放大倍率,、移動(dòng)樣品位置,、調(diào)節(jié)焦距和明暗對(duì)比度等。用戶可以通過簡(jiǎn)單的鼠標(biāo)拖拽,,將這些模塊按邏輯順序組成一個(gè)工作程序,。經(jīng)過調(diào)試和確認(rèn)后,該程序便可以在每次調(diào)用時(shí)自動(dòng)獲得高質(zhì)量,、重現(xiàn)性好的圖像數(shù)據(jù),。
原生支持雙顯示器,提供靈活,、高效的操作空間,。
6通道同時(shí)顯示與保存,實(shí)現(xiàn)快速的多信號(hào)觀測(cè)與采集,,帶來更多信息,。
單次掃描**支持 40,960×30,720 的超高像素*
電子光學(xué)系統(tǒng) | 二次電子分辨率 | 0.8 nm@15 kV |
---|---|---|
0.9 nm@1 kV | ||
放大倍率 | 20 ~ 2,000,000 x | |
電子槍 | 肖特基場(chǎng)發(fā)射電子源 | |
加速電壓 | 0.1 ~ 30 kV | |
著陸電壓*1,*3 | 0.01 ~ 7 kV | |
**束流 | 200 nA | |
探測(cè)器 | 標(biāo)配探測(cè)器 | 上探測(cè)器(UD) |
下探測(cè)器(LD) | ||
選配探測(cè)器*3 | 鏡筒內(nèi)背散射電子探測(cè)器(MD) | |
半導(dǎo)體式背散射電子探測(cè)器(PD-BSE) | ||
高靈敏低真空探測(cè)器(UVD) | ||
掃描透射探測(cè)器(STEM) | ||
選配附件*2 | X射線能譜儀(EDS) | |
電子背散射衍射探測(cè)器(EBSD) | ||
樣品臺(tái) | 馬達(dá)驅(qū)動(dòng)軸 | 5軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng) |
移動(dòng)范圍 | ||
X | 0 ~ 110 mm | |
Y | 0 ~ 110 mm | |
Z | 1.5 ~ 40 mm | |
T | -5 ~ 70° | |
R | 360° | |
樣品室 | 樣品尺寸 | **直徑:150 mm*4 |
低真空模式 | 真空范圍 | 5 ~ 300 Pa |
暫無數(shù)據(jù)!