誤差率：
分辨率：
0.01重現(xiàn)性：
儀器原理：
圖像分析分散方式：
測(cè)量時(shí)間：
60s測(cè)量范圍：
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雙電測(cè)電四探針方阻電阻率測(cè)試儀的概括
一.應(yīng)用說明Widely used：
覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高,、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布,、裝飾膜,、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉,、燒結(jié),、濺射、涂覆,、涂布層,，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,，其他半導(dǎo)體材料,、薄膜材料方阻測(cè)試
硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層,、外延層,、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓,、太陽能電池,、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等）,，金屬膜,，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜,，PCB銅箔膜,，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物,，導(dǎo)電性塑料,，導(dǎo)電性橡膠,，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜,， EMI 防護(hù)材料,，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等,，提供中文或英文兩種語言操作界面選擇.
雙電測(cè)電四探針方阻電阻率測(cè)試儀的概括
二．描述Description：
采用四探針組合雙電測(cè)量方法,，液晶顯示，自動(dòng)測(cè)量,，自動(dòng)量程,，自動(dòng)系數(shù)補(bǔ)償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出,；選配：PC軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)管理和處理.
雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量,。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針,、電壓探針的變換,，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析,，解決樣品幾何尺寸,、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響.
雙電測(cè)電四探針方阻電阻率測(cè)試儀的概括
三.參數(shù)資料Parameters
規(guī)格型號(hào)/ model | FT-341 |
1.方塊電阻sheet resistance | 10-5～2×105Ω/□ |
2.電阻率Resistivity | 10-6～2×106Ω-cm |
3.測(cè)試電流Test current | 0.1μA.μA.0μA，100μA,，1mA,，10mA，100mA |
4.電流精度Current | ±0.1% accuracy |
5.電阻精度Resistance | ≤0.3% accuracy |
6.顯示讀數(shù)display | 屏液晶顯示：電阻,、電阻率,、方阻、溫度,、單位換算,、溫度系數(shù)、電流,、電壓,、探針形狀、探針間距,、厚度 ,、電導(dǎo)率Large screen LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity |
7.測(cè)試方式 | test mode雙電測(cè)量Double electrical measurement |
8.電源Power | 輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W |
9.誤差errors | ≤3%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）（standard samples） |
10.選購功能choose to buy | 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭,； 選購3.直線形探頭,； 選購4.測(cè)試平臺(tái)；5.標(biāo)準(zhǔn)電阻.1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test platform |
11.測(cè)試探頭test probe | 探針間距選購：1mm,；2mm,；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針,；鍍金磷銅半球形針Optional probe spacing: 1mm；2mm,；3mm in three sizes.Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles. |
采用四探針組合雙電測(cè)量方法,，液晶顯示，自動(dòng)測(cè)量,，自動(dòng)量程,，自動(dòng)系數(shù)補(bǔ)償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出,；選配：PC軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)管理和處理.
智能粉體特性綜合測(cè)試儀優(yōu)勢(shì)及特點(diǎn)分析1）.高精度自動(dòng)化測(cè)量技術(shù),，智能化測(cè)量系統(tǒng)，采用集成電路系統(tǒng)模塊,；2）.7寸觸摸屏或PC軟件兩種操作模式并存：測(cè)試過程和測(cè)試結(jié)果通過PC軟件曲線圖位表示,，并自動(dòng)生成
2020-03-05
智能粉體特性測(cè)試儀與非智能型比較優(yōu)勢(shì)分析 一、 功能對(duì)比：1.1.自動(dòng)型特點(diǎn)：通過高精度自動(dòng)化測(cè)量技術(shù),，智能化測(cè)量系統(tǒng),，采用集成電路系統(tǒng)模塊；觸摸屏或者PC軟件兩種操作模式并存：測(cè)試過程和測(cè)試結(jié)果通
2020-03-05
2020-03-05
智能粉末電導(dǎo)率測(cè)試系統(tǒng)1.PC軟件界面分析粉體在不同的壓縮狀態(tài)下壓實(shí)密度與電導(dǎo)率的變化函數(shù)關(guān)系,，2.描述粉體在粒度、含水量,、溫濕度,、等不同條件下壓縮和電阻率的函數(shù).3.具備校準(zhǔn)功能模塊：提供壓力，高度
2020-03-05
四探針電阻率測(cè)試儀是一款主要用于測(cè)量粉末材料電阻率試驗(yàn)的專用儀器。四探針電阻率測(cè)試儀對(duì)于半導(dǎo)體材料的電阻率,，一般采用四探針,、三探針和擴(kuò)展電阻。電阻率是反映半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的重要參數(shù)之一,。測(cè)量電阻率的
一,、 參照標(biāo)準(zhǔn)Meet the standards：ASTM標(biāo)準(zhǔn)b329 – 90;GB/T 1479.2-2011 GB5060；USP2
LX-9830G 恒流恒壓電壓降檢測(cè)儀詳情介紹操作流程及步驟：1. 接通電源,，開機(jī)2. 設(shè)置好測(cè)試條件.
粉體流變儀詳情介紹粉體流變儀是一種用于測(cè)試粉體材料流變性質(zhì)的儀器,。它可以測(cè)量粉體的流變性、塑性,、彈性,、粘度和壁摩擦等性質(zhì)。粉體流變儀的主要工作原理是旋轉(zhuǎn)錐體或板式結(jié)構(gòu),，通過測(cè)量錐體或板之間的粉體物料所
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雙電測(cè)電四探針方阻電阻率測(cè)試儀的概括的工作原理介紹？雙電測(cè)電四探針方阻電阻率測(cè)試儀的概括的使用方法,？雙電測(cè)電四探針方阻電阻率測(cè)試儀的概括多少錢一臺(tái),？雙電測(cè)電四探針方阻電阻率測(cè)試儀的概括使用的注意事項(xiàng)雙電測(cè)電四探針方阻電阻率測(cè)試儀的概括的說明書有嗎？雙電測(cè)電四探針方阻電阻率測(cè)試儀的概括的操作規(guī)程有嗎,？雙電測(cè)電四探針方阻電阻率測(cè)試儀的概括的報(bào)價(jià)含票含運(yùn)費(fèi)嗎,？雙電測(cè)電四探針方阻電阻率測(cè)試儀的概括有現(xiàn)貨嗎？雙電測(cè)電四探針方阻電阻率測(cè)試儀的概括包安裝嗎,？
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