誤差率：
分辨率：
1%重現(xiàn)性：
儀器原理：
其他分散方式：
測(cè)量時(shí)間：
60S測(cè)量范圍：
10-7～2×107Ω看了高溫下測(cè)試導(dǎo)體新材料的電導(dǎo)率特性變化情況的用戶又看了
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高溫下測(cè)試導(dǎo)體新材料的電導(dǎo)率特性變化情況
功能概述：overview
1. 四探針雙電組合測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合
2. 配置高溫四探針測(cè)試探針治具
3. PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制.
4. 量程測(cè)試范圍.
應(yīng)用說明：
半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率對(duì)溫度變化測(cè)量要求,，測(cè)控軟件實(shí)時(shí)繪制出溫度與電阻,，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜,，及過程數(shù)據(jù)值的報(bào)表分析.
高溫下測(cè)試導(dǎo)體新材料的電導(dǎo)率特性變化情況
適用行業(yè)：Applicable industry:
用于：企業(yè),、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷,、硅,、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率,、測(cè)定硅外延層,、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù).
雙電測(cè)四探針儀是運(yùn)用直線四探針雙位測(cè)量,。設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法
標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn),。
高溫下測(cè)試導(dǎo)體新材料的電導(dǎo)率特性變化情況
型號(hào)及參數(shù)Models and technical parameters：
規(guī)格型號(hào)Models | FT-351A | FT-351B | FT-351C |
1.方塊電阻范圍sheet resistance | 10-5～2×105Ω/□ | 10-6～2×105Ω/□ | 10-4～1×107Ω/□ |
2.電阻率范圍resistivity range | 10-6～2×106Ω-cm | 10-7～2×106Ω-cm | 10-5～2×108Ω-cm |
3.測(cè)試電流范圍test current range | 0.1μA.μA.0μA，100μA,，1mA,，10mA，100 mA | 1A,、100mA,、10mA、1mA,、100uA,、10uA、1uA,、0.1uA | 10mA ---200pA |
4.電流精度current accuracy | ±0.1%讀數(shù) | ±0.1讀數(shù) | ±2% |
5.電阻精度resistance accuracy | ≤0.3% | ≤0.3% | ≤10% |
PC軟件界面 PC software interface | 顯示：電阻,、電阻率、方阻,、溫度,、單位換算、溫度系數(shù),、電流,、電壓、探針形狀,、探針間距,、厚度 ,、電導(dǎo)率 LCD: resistance.resistivity. sheet resistance. temperature.unit conversion. temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness | ||
7.測(cè)試方式test mode | 雙電測(cè)量Double electrical measurement | ||
8.四探針儀工作電源working power | AC 220V±10%.50Hz <30W
| ||
9.誤差errors | ≤3%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果 standard samples） | ≤15% | |
溫度(選購(gòu))Highest temperature (choose and buy) | 常溫 Normal temperature -400℃,；600℃,；800℃；1000℃,；1200℃,；1400℃；1600℃ | ||
氣氛保護(hù)（氣體客戶自備） Atmosphere protection(Gas was provided by customers themselves) | 常用氣體如下：氦(He),、氖(Ne),、氬(Ar)、氪(Kr),、氙(Xe),、氡(Rn)，均為無色,、無臭,、氣態(tài)的單原子分子 The usual gases are: helium (He). neon (Ne). argon (Ar). krypton (Kr). xenon (Xe). and radon (Rn). all in colorless. odorless. gaseous monatomic molecules. | ||
溫度精度 Temperature precision | 沖溫值 Blunt temperature values：≤1-3℃；控溫精度 control precision：±1°C | ||
升溫速度： rate of temperature increase | 常溫開始400℃--800℃需要15分鐘,；800℃-1200℃需要30分鐘,；1400℃-1600℃需要250分鐘—300分鐘 About 15 minutes at room temperature to 400 ℃. 800 ℃;800 ℃ to 1200 ℃ need 30 minutes;1400 ℃ to 1600 ℃ to 250 minutes. 300 minutes | ||
高溫材料 High temperature material | 采用復(fù)合陶瓷纖維材料，具有真空成型,，高溫不掉粉的特征Adopt composite ceramic fiber material. have vacuum forming. high temperature not drop powder | ||
PC軟件 PC software | 測(cè)試PC軟件一套,，USB通訊接口，軟件界面同步顯示,、分析,、保存和打印數(shù)據(jù)！One set Special test PC software. USB communication interface. software interface synchronization display. analysis. save and print data! | ||
電極材料 Electrode materials | 鎢電極或鉬電極 Tungsten electrode or molybdenum electrode | ||
探針間距 The probe spacing | 直線型探針,，探針中心間距：4mm,；樣品要求大于13mm直徑Linear probe. probe center spacing: 4mm;Sample requirements are greater than 13mm diameter | ||
標(biāo)配外（選購(gòu)）： Except standard configuration (optional) | 電腦和打印機(jī)1套；2.標(biāo)準(zhǔn)電阻1-5個(gè),； 1 . One set computer and printer 2.Standard resistance 1 to 5pcs | ||
高溫電源： High temperature power | 供電：400-1200℃ 電源220V,，功率4KW；380V;1400℃-1600℃電源380V,；功率9KW： Power supply: 400-1200 ℃ power 220 v. 4 kw power;380 v;1400 ℃ to 1600 ℃ power supply380V ; power 9KW | ||
----我們一直在做：
研發(fā),、生產(chǎn)、銷售研發(fā),、生產(chǎn),、銷售、租賃,、實(shí)驗(yàn)室樣品分析及后延擴(kuò)展服
務(wù).
操作流程及步驟
1.系統(tǒng)連接：將各個(gè)部件及控制系統(tǒng),、電源及USB通訊接口接通,；
2.調(diào)通系統(tǒng)的連接是否正常，可以從PC軟件及電阻率測(cè)試儀上的數(shù)據(jù)變化看出.
3.在高溫箱體上分段設(shè)定所需要溫度,，當(dāng)然也可以不分段而設(shè)定一個(gè)溫度.具體高溫箱體儀表操作請(qǐng)查看《溫度儀表操作手冊(cè)》.
4.待樣品通過高溫夾具進(jìn)入高溫箱體.
5.開啟惰性氣體輸入閥門.
6.溫度實(shí)時(shí)上升過程中,，樣品阻值實(shí)時(shí)曲線變化.
7.帶溫度達(dá)到設(shè)定值時(shí)，自動(dòng)停止加熱.
8.測(cè)試完畢,，關(guān)閉高溫電源,，帶10-20分鐘后.
9.通過高溫手套，移動(dòng)夾具上升離開高溫箱體.
10.用鑷子取出樣品.
半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率對(duì)溫度變化測(cè)量要求,，測(cè)控軟件實(shí)時(shí)繪制出溫度與電阻,，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜,，及過程數(shù)據(jù)值的報(bào)表分析.
智能粉體特性綜合測(cè)試儀優(yōu)勢(shì)及特點(diǎn)分析1）.高精度自動(dòng)化測(cè)量技術(shù),，智能化測(cè)量系統(tǒng)，采用集成電路系統(tǒng)模塊,；2）.7寸觸摸屏或PC軟件兩種操作模式并存：測(cè)試過程和測(cè)試結(jié)果通過PC軟件曲線圖位表示,，并自動(dòng)生成
2020-03-05
智能粉體特性測(cè)試儀與非智能型比較優(yōu)勢(shì)分析 一、 功能對(duì)比：1.1.自動(dòng)型特點(diǎn)：通過高精度自動(dòng)化測(cè)量技術(shù),，智能化測(cè)量系統(tǒng),，采用集成電路系統(tǒng)模塊；觸摸屏或者PC軟件兩種操作模式并存：測(cè)試過程和測(cè)試結(jié)果通
2020-03-05
2020-03-05
智能粉末電導(dǎo)率測(cè)試系統(tǒng)1.PC軟件界面分析粉體在不同的壓縮狀態(tài)下壓實(shí)密度與電導(dǎo)率的變化函數(shù)關(guān)系,，2.描述粉體在粒度,、含水量、溫濕度,、等不同條件下壓縮和電阻率的函數(shù).3.具備校準(zhǔn)功能模塊：提供壓力,，高度
2020-03-05
四探針電阻率測(cè)試儀是一款主要用于測(cè)量粉末材料電阻率試驗(yàn)的專用儀器,。四探針電阻率測(cè)試儀對(duì)于半導(dǎo)體材料的電阻率，一般采用四探針,、三探針和擴(kuò)展電阻,。電阻率是反映半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的重要參數(shù)之一。測(cè)量電阻率的
一,、 參照標(biāo)準(zhǔn)Meet the standards：ASTM標(biāo)準(zhǔn)b329 – 90;GB/T 1479.2-2011 GB5060,；USP2
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