分散方式:
測量時(shí)間:
60s測量范圍:
10-5誤差率:
分辨率:
1%重現(xiàn)性:
儀器原理:
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FT-342雙電測電四探針方阻電阻率測試儀
FT-342 Double electric four-probe resistance ratio tester
一.應(yīng)用說明Widely used:
覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,,高,、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布,、裝飾膜,、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉,、燒結(jié)、濺射,、涂覆,、涂布層,,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,,其他半導(dǎo)體材料,、薄膜材料方阻測試
硅晶塊,、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層,、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓,、太陽能電池,、電子元器件,,導(dǎo)電薄膜(ITO導(dǎo)電膜玻璃等),金屬膜,,導(dǎo)電漆膜,,蒸發(fā)鋁膜,,PCB銅箔膜,,EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆,,導(dǎo)電性糊狀物,,導(dǎo)電性塑料,導(dǎo)電性橡膠,,導(dǎo)電性薄膜,,金屬薄膜,, EMI 防護(hù)材料,導(dǎo)電性纖維,,導(dǎo)電性陶瓷等,,提供中文或英文兩種語言操作界面選擇,,
covering film;Conductive polymer film. high and low temperature electric film;Insulation. anti-radiation conductive film (shielding) cloth. decorative film. decorative paper.Metallized labels and alloy foil films.Smelting. sintering. sputtering. coating. Coating layer. resistance. capacitive touch screen.Electrode coating. other semiconductor materials. thin-film material resistance testing.
Silicon block. chip resistance rate and diffusion layer. epitaxial layer. ITO conductive foil. conductive rubber materials such as square resistance .semiconductor materials/wafer. solar cells. electronic components. conductive film (ITO conductive
二.描述Description:
采用四探針組合雙電測量方法,,液晶顯示,自動(dòng)測量,,自動(dòng)量程,,自動(dòng)系數(shù)補(bǔ)償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出,;選配:PC軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)管理和處理.
雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測量,。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn),。利用電流探針、電壓探針的變換,,進(jìn)行兩次電測量,,對數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析,解決樣品幾何尺寸,、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響.
規(guī)格型號/ model | FT-342 |
1.方塊電阻sheet resistance | 10-4~2×105Ω/□ |
2.電阻率Resistivity | 10-5~2×106Ω-cm |
3.測試電流Test current | 1μA,,10μA,100μA,,1mA,10mA,,100mA |
4.電流精度Current | ±0.2% accuracy |
5.電阻精度Resistance | ≤0.3% accuracy |
6.顯示讀數(shù)display | 屏液晶顯示:電阻、電阻率,、方阻,、溫度,、單位換算、溫度系數(shù),、電流、電壓,、探針形狀、探針間距,、厚度 ,、電導(dǎo)率Large screen LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity |
7.測試方式 | test mode雙電測量Double electrical measurement |
8.電源Power | 輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W |
9.誤差errors | ≤3%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果)(standard samples) |
10.選購功能choose to buy | 選購1.pc軟件,; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭,; 選購4.測試平臺(tái),;5.標(biāo)準(zhǔn)電阻.1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test platform |
11.測試探頭test probe | 探針間距選購:1mm,;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購:碳化鎢針;白鋼針,;鍍金磷銅半球形針Optional probe spacing: 1mm,;2mm,;3mm in three sizes.Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles. |
三.參數(shù)資料 Parameters
儀器精密,操作簡單,。
智能粉體特性綜合測試儀優(yōu)勢及特點(diǎn)分析1).高精度自動(dòng)化測量技術(shù),,智能化測量系統(tǒng),采用集成電路系統(tǒng)模塊,;2).7寸觸摸屏或PC軟件兩種操作模式并存:測試過程和測試結(jié)果通過PC軟件曲線圖位表示,并自動(dòng)生成
2020-03-05
智能粉體特性測試儀與非智能型比較優(yōu)勢分析 一,、 功能對比:1.1.自動(dòng)型特點(diǎn):通過高精度自動(dòng)化測量技術(shù),,智能化測量系統(tǒng),采用集成電路系統(tǒng)模塊,;觸摸屏或者PC軟件兩種操作模式并存:測試過程和測試結(jié)果通
2020-03-05
2020-03-05
智能粉末電導(dǎo)率測試系統(tǒng)1.PC軟件界面分析粉體在不同的壓縮狀態(tài)下壓實(shí)密度與電導(dǎo)率的變化函數(shù)關(guān)系,2.描述粉體在粒度,、含水量,、溫濕度,、等不同條件下壓縮和電阻率的函數(shù).3.具備校準(zhǔn)功能模塊:提供壓力,高度
2020-03-05
四探針電阻率測試儀是一款主要用于測量粉末材料電阻率試驗(yàn)的專用儀器,。四探針電阻率測試儀對于半導(dǎo)體材料的電阻率,,一般采用四探針,、三探針和擴(kuò)展電阻,。電阻率是反映半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的重要參數(shù)之一。測量電阻率的
一,、 參照標(biāo)準(zhǔn)Meet the standards:ASTM標(biāo)準(zhǔn)b329 – 90;GB/T 1479.2-2011 GB5060,;USP2
LX-9830G 恒流恒壓電壓降檢測儀詳情介紹操作流程及步驟:1. 接通電源,,開機(jī)2. 設(shè)置好測試條件.
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