編號：NMJS01730
篇名：英國質量計量設備廠商和Intel,IMEC合作開發(fā)20納米節(jié)點半導體工藝
作者：沈熙磊,；
關鍵詞：質量計量,； 設備廠商,； 納米,； 節(jié)點,； 半導體工藝,； 合作開發(fā),； 英國,； 計量技術,； 高精度,； 創(chuàng)新發(fā)展；
機構：
摘要： <正>英國質量計量設備廠商Metryx日前正式加入一項由歐洲廠商主導的半導體設備創(chuàng)新發(fā)展評估項目,在此合作框架下,Metryx將和Intel,IMEC等展開深入合作,為20納米節(jié)點半導體工藝開發(fā)提供高精度質量計量技術和設備,。高精度質量計量技 更多還原
