編號(hào)：FTJS01907
篇名：UV-Vis-NIR反射光譜表征粉體材料的能隙值的方法
作者：李秀艷,； 王強(qiáng),；
關(guān)鍵詞：粉體材料； 紫外-可見(jiàn)-近紅外反射光譜,； 能隙值,；
機(jī)構(gòu)： 北京服裝學(xué)院材料科學(xué)與工程學(xué)院； 北京市服裝材料研究開(kāi)發(fā)與評(píng)價(jià)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,；
摘要： 運(yùn)用涂膜法和UV-Vis-NIR反射光譜,提出了表征粉體材料能隙值的新方法,。結(jié)果表明,當(dāng)Vcoloed/VTiO2(有色粉體與鈦白的體積比)小于5%時(shí),通過(guò)反射光譜可得到表征材料在該波段吸波特性的Kubellka-Munk函數(shù)F,即F=(1-R∞)2/2R∞(R∞是涂層無(wú)限厚時(shí)的反射率)。將Kubellka-Munk函數(shù)F對(duì)波長(zhǎng)(以電子伏特表示)作圖,就可以得到表征材料能隙值的曲線,。該方法操作簡(jiǎn)單,節(jié)省原料,同時(shí)由于去除了有色粉體粒子間的相互干擾,在實(shí)際研究中具有普遍性,。
