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激光粒度儀-美國麥奇克儀器有限公司
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產(chǎn)品詳情
納米粒度及zeta電位儀 Nanotrac wave II
納米粒度及zeta電位儀 Nanotrac wave II的圖片
參考報價:
20-30萬元
品牌:
Microtrac MRB/麥奇克
關(guān)注度:
30720
樣本:
暫無
型號:
Nanotrac wave II
產(chǎn)地:
美國/德國
信息完整度:
典型用戶:
暫無
重現(xiàn)性:
誤差≤1%
儀器原理:
動態(tài)光散射
測量時間:
30-120秒
測量范圍:
0.3nm-10μm
索取資料及報價
認證信息
高級會員 第 10
名 稱:激光粒度儀-美國麥奇克儀器有限公司
認 證:工商信息已核實
訪問量:1248682
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產(chǎn)品簡介

納米粒度測量——先進的動態(tài)光背散射技術(shù)

Zeta電位測量:Microtrac MRB以其在激光衍射/散射技術(shù)和顆粒表征方面的獨到見解,,經(jīng)過多年的市場調(diào)研和潛心研究,,開發(fā)出新一代NANOTRAC WAVE II微電場分析技術(shù),,融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體,無需傳統(tǒng)的比色皿,,一次進樣即可得到準確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù),。與傳統(tǒng)的Zeta電位分析技術(shù)相比,NANOTRAC WAVE II采用先進的“Y”型光纖探針光路設(shè)計,,配置膜電極產(chǎn)生微電場,,操作簡單,測量迅速,,無需精確定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層,,無需外加大功率電場,無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池,,完全消除由于空間位阻(不同光學元器件間的傳輸損失,,比色皿器壁的折射和污染,比色皿位置的差異,,分散介質(zhì)的影響,,顆粒間多重散射等)帶來的光學信號的損失,結(jié)果準確可靠,,重現(xiàn)性好,。


測量原理:

粒度測量:動態(tài)光背散射技術(shù)和全量程米氏理論處理

Zeta電位測量:膜電極設(shè)計與“Y”型探頭形成微電場測量電泳遷移率

分子量測量:水力直徑或德拜曲線


光學系統(tǒng):

3mW780nm半導(dǎo)體固定位置激光器,,通過梯度步進光纖直接照射樣品,,在固定位置用硅光二極管接受背散射光信號,無需校正光路


軟件系統(tǒng):

先進的FLEX軟件提供強大的數(shù)據(jù)處理能力,,包括圖形,,數(shù)據(jù)輸出/輸入,個性化輸出報告,,及各種文字處理功能,,如PDF格式輸出, Internet共享數(shù)據(jù),Microsoft Access格式(OLE)等,。體積,,數(shù)量,,面積及光強分布,包括積分/微分百分比和其他分析統(tǒng)計數(shù)據(jù),。數(shù)據(jù)的完整性符合21 CFR PART 11安全要求,,包括口令保護,電子簽名和指定授權(quán)等,。


外部環(huán)境:

電源要求:90-240VAC,,5A,50/60Hz

環(huán)境要求:溫度,,10-35°C

國際標準:符合ISO13321,,ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008


主要特點:

? 采用先進的動態(tài)光散射技術(shù),引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法

? “Y”型光纖光路系統(tǒng),,通過藍寶石測量窗口,,直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布,在加載電流的情況下,,與膜電極對應(yīng)產(chǎn)生微電場,,測量同一體系的Zeta電位, 避免樣品交叉污染與濃度變化,。

? 異相多譜勒頻移技術(shù),,較之傳統(tǒng)的方法,獲得光信號強度高出幾個數(shù)量級,,提高分析結(jié)果的可靠性,。

? 可控參比方法(CRM),能精細分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜,,確保分析的靈敏度,。

? 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計,減少了多重散射現(xiàn)象的干擾,,保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性,。

? 快速傅利葉變換算法(FFT,F(xiàn)ast FourierTransform Algorithm Method),迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜,,縮短分析時間,。

? 膜電極設(shè)計,避免產(chǎn)生熱效應(yīng),,能準確測量顆粒電泳速度,。

? 無需比色皿,毛細管電泳池或外加電極池,,僅需點擊Zeta電位操作鍵,,一分鐘內(nèi)即可得到分析結(jié)果

? 消除多種空間位阻對散射光信號的干擾,諸如光路中不同光學元器件間傳輸?shù)膿p失,,樣品池位置不同帶來的誤差,,比色皿器壁的折射與污染,,分散介質(zhì)的影響,多重散射的衰減等,,提高靈敏度,。

產(chǎn)品參數(shù)
粒度分析范圍0.3nm-10μm
重現(xiàn)性誤差≤1%
濃度范圍100ppb-40%w/v
檢測角度180°
分析時間30-120秒
準確性全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子
測量精度無需預(yù)選,依據(jù)實際測量結(jié)果,,自動生成單峰/多峰分布結(jié)果
理論設(shè)計溫度0-90℃,,可以進行程序升溫或降溫
兼容性水相和有機相


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