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iF設(shè)計獎
iF設(shè)計獎（iF Design Award）創(chuàng)立于1954年，由德國漢諾威工業(yè)設(shè)計論壇主辦,，是全球公認的歷史最悠久,，與紅點獎、IDEA獎?齊名的三大權(quán)威設(shè)計獎之一,。覆蓋產(chǎn)品,、包裝、通信等七大領(lǐng)域,，以獨立評審與創(chuàng)新標準著稱,，被譽為“設(shè)計界奧斯卡”，代表行業(yè)頂級創(chuàng)新水平,。
Litesizer DIA 500
Litesizer DIA 500是安東帕 2023 年上市的一款高端動態(tài)圖像原理的顆粒粒度和顆粒形狀測試儀器,，因其精致而實用的設(shè)計榮獲 2025 年 iF 設(shè)計獎。由 131 名獨立設(shè)計專家組成的評審團對顆粒表征裝置的模塊化設(shè)計,、直觀的可用性和高測量精度給予了肯定,。
模塊化設(shè)計帶來的靈活性
Litesizer DIA 500 具有模塊化設(shè)計，有三個可互換的分散單元：“濕法”,、“干法噴射”和“自由落體”,。這些分散器靈活地適應不同的樣品類型，并為實驗室提供精確顆粒分析的高水平解決方案,。先進的技術(shù)和人性化的操作相結(jié)合,，確保了高效可靠的顆粒尺寸和形狀特性表征。
安東帕 Litesizer DIA 的產(chǎn)品設(shè)計師Michael Jaritz 說：“在開發(fā) Litesizer DIA 500 時，我們的重點是結(jié)構(gòu)清晰,，吸引人的設(shè)計,，優(yōu)化技術(shù)性能和用戶友好性。贏得iF設(shè)計獎證實了我們在這種方法上走的是正確的道路,?！?nbsp;
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