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正確選擇 X 射線(xiàn)光學(xué)元件可以顯著提高 XRD 數(shù)據(jù)質(zhì)量,,使定量和定性物相分析更容易,并避免忽視衍射圖中的重要細(xì)節(jié),。
X 射線(xiàn)衍射 (XRD) 是對(duì)多晶樣品(如粉末或塊體材料)進(jìn)行定量和定性分析的標(biāo)準(zhǔn)方法,。很難識(shí)別材料中包含的所有物相,并量化每個(gè)物相的正確相對(duì)含量,。這在多相體系中尤其如此,,其中某些物相只占整個(gè)體系的百分之幾,。高數(shù)據(jù)質(zhì)量、高分辨率和低背景噪音在這方面有很大幫助,。Anton Paar 全自動(dòng)多功能粉末 X 射線(xiàn)衍射儀 XRDynamic 500 是此類(lèi)測(cè)量的完美選擇,,因?yàn)槠鋵?zhuān)利的TruBeamTM 概念將無(wú)與倫比的數(shù)據(jù)質(zhì)量和測(cè)量效率相結(jié)合。
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