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Litesizer DLS 系列是安東帕公司的動態(tài)光散射粒度/Zeta 電位分析儀產(chǎn)品,，用于表征從納米到微米粒子的粒度、粒度分布,、Zeta 電位,、分子量、粒子濃度,、透光率等特性,，具有適用濃度范圍寬、一鍵操作完成測試,、功能全面等優(yōu)點,。在 Litesizer DLS 100 和Litesizer DLS 500 取得了優(yōu)秀銷售和應用成績的基礎上，安東帕推出了功能更為強大的Litesizer DLS 700,。
安東帕 Litesizer DLS 700
動態(tài)光散射粒度分析儀
攜全新復雜基質(zhì)測試方案登場：
MAPS系統(tǒng)：復雜樣品的簡單方案
PCON系統(tǒng)：樣品中不同顆粒濃度及總濃度的直觀表達
MAPS多角度聯(lián)合測試
簡單的單峰樣品測試已無法滿足日益多樣的測試需求,，Litesizer DLS 700 正式推出多峰樣品的最佳測試方案：
MAPS 系統(tǒng)擁有更高的分辨率，解決復雜樣品的粒徑問題,；更準確的粒徑分布結果,；更優(yōu)秀的分離度，粒徑比例大于1：2 即能準確分辨,。
不同角度分管樣品中不同大小顆粒的結果,，將其連立計算，即可獲得,，不同大小顆粒的準確結果,。
實驗分析
NIST 標準物質(zhì)：
已知粒徑分別為150nm和300nm（粒徑大小比值為1：2），將兩者混合,，混合比為3:1
用背散射角測量/MAPS 測量
使用Maps進行三角度測量
背散射角度測試顯示單峰
背散射測量只顯示一個峰值無法將其分為雙峰,，MAPS 結果,，準確的解出了兩個峰值。
Litesizer DLS 700 測試顯示雙峰
PCON顆粒濃度測試
借助 PCON 系統(tǒng)強大的功能,，現(xiàn)在您可以更了解樣品中顆粒的濃度,。Litesizer 700 不單單提供樣品中顆粒的總濃度，通過 MAPS 對樣品進行解析,，還可以確定不同大小顆粒各自的濃度,。
結果顯示：峰大小、相應濃度,、總濃度
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