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大昌華嘉科學(xué)儀器部
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2012慕尼黑上海分析生化展,16日在上海新國(guó)際博覽中心N1,、N2館隆重揭幕。大昌華嘉攜美國(guó)麥奇克 Microtrac 納米粒度及Zeta 電位分析儀Nanotrac Wave亮相2012年慕尼黑上海分析生化展,。
納米粒度測(cè)量——最新動(dòng)態(tài)光背散射技術(shù)
隨著顆粒粒徑的減小,，例如分子級(jí)別的大小,，顆粒對(duì)光的散射效率急劇降低,，使得經(jīng)典動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)的自相關(guān)檢測(cè)(PCS)變得更加不確定,。40多年來，Microtrac公司一直致力于激光散射技術(shù)在顆粒粒度測(cè)量中的應(yīng)用,。作為行業(yè)的先鋒,，早在1990年，超細(xì)顆粒分析儀器 UPA(Ultrafine Particle Analyzer)研發(fā)成功,，首次引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動(dòng)而產(chǎn)生頻率變化的能譜概念,，快速準(zhǔn)確地得到被測(cè)體系的納米粒度分布,。2001年，利用背散射(Back-scattered)和異相多譜勒頻移(Heterodyne Doppler Frequency Shifts)技術(shù),，結(jié)合動(dòng)態(tài)光散射理論和先進(jìn)的數(shù)學(xué)處理模型,，NPA150/250將分析范圍延伸至0.8nm-6.5μm,樣品濃度更可高達(dá)百分之四十，基本實(shí)現(xiàn)樣品的原位檢測(cè),。異相多普勒頻移技術(shù)采用可控參考穩(wěn)定頻率,，直接比照因顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)而產(chǎn)生的頻率漂移，綜合考慮被測(cè)體系的實(shí)時(shí)溫度和粘度,，較之于傳統(tǒng)的自相關(guān)技術(shù),，信號(hào)強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級(jí),。另外,，新型“Y”型梯度光纖探針的使用，實(shí)現(xiàn)了對(duì)樣品的直接測(cè)量,，極大的減少了背景噪音,，提高了儀器的分辨率。
Zeta電位測(cè)量：
美國(guó)麥奇克有限公司(Microtrac Inc.)以其在激光衍射/散射技術(shù)和顆粒表征方面的獨(dú)到見解,，經(jīng)過多年的市場(chǎng)調(diào)研和潛心研究,，開發(fā)出最新一代Nanotrac wave微電場(chǎng)分析技術(shù)，融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測(cè)量于一體,，無需傳統(tǒng)的比色皿,，一次進(jìn)樣即可得到準(zhǔn)確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù)。與傳統(tǒng)的Zeta電位分析技術(shù)相比,，Nanotrac wave采用先進(jìn)的“Y”型光纖探針光路設(shè)計(jì),，配置膜電極產(chǎn)生微電場(chǎng)，操作簡(jiǎn)單,，測(cè)量迅速,，無需精確定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層，無需外加大功率電場(chǎng),，無需更換分別用于測(cè)量粒度和Zeta電位的樣品池,，完全消除由于空間位阻(不同光學(xué)元器件間的傳輸損失，比色皿器壁的折射和污染,，比色皿位置的差異,，分散介質(zhì)的影響，顆粒間多重散射等)帶來的光學(xué)信號(hào)的損失,，結(jié)果準(zhǔn)確可靠,，重現(xiàn)性好。
主要特點(diǎn)：
﹡ 采用最新的動(dòng)態(tài)光散射技術(shù),，引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法
﹡ 專利的“Y”型光纖光路系統(tǒng),，通過藍(lán)寶石測(cè)量窗口,，直接測(cè)量懸浮體系中的顆粒粒度分布，在加載電流的情況下,，與膜電極對(duì)應(yīng)產(chǎn)生微電場(chǎng),，測(cè)量同一體系的Zeta電位，避免樣品交叉污染與濃度變化,。
﹡ 專利的異相多譜勒頻移技術(shù),，較之傳統(tǒng)的方法，獲得光信號(hào)強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級(jí),，提高分析結(jié)果的可靠性,。
﹡ 專利的可控參比方法(CRM)，能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜,，確保分析的靈敏度,。
﹡ 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計(jì)，減少了多重散射現(xiàn)象的干擾,，保證高濃度溶液中納米顆粒測(cè)試的準(zhǔn)確性,。
﹡ 專利的快速傅利葉變換算法(FFT，F(xiàn)ast Fourier Transform Algorithm Method),迅速處理檢測(cè)系統(tǒng)獲得的能譜,，縮短分析時(shí)間,。
﹡ 專利膜電極設(shè)計(jì)，避免產(chǎn)生熱效應(yīng),，能準(zhǔn)確測(cè)量顆粒電泳速度,。
﹡ 無需比色皿，毛細(xì)管電泳池或外加電極池,，僅需點(diǎn)擊Zeta電位操作鍵,，一分鐘內(nèi)即可得到分析結(jié)果
﹡ 消除多種空間位阻對(duì)散射光信號(hào)的干擾，諸如光路中不同光學(xué)元器件間傳輸?shù)膿p失,，樣品池位置不同帶來的誤差,，比色皿器壁的折射與污染，分散介質(zhì)的影響,，多重散射的衰減等,，提高靈敏度
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