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2011年7月19日-7月25日,,麥克顆粒表征與技術系列專題研討會分別在中山大學,、武漢理工大學,、南京大學,、浙江大學隆重召開,。此次系列研討會吸引眾多學校以及研究所教授約200位專家學者參與了此次大會.
研討會主題為物理吸附與化學吸附的理論與實踐,,麥克儀器資深專家Jeff Kenvin博士與Jacek Jagiello博士,,報告了物理吸附與化學吸附基本理論,,并與實踐經驗相結合,引起與會專家學者和業(yè)內同仁們熱烈的反響和討論,。
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