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HORIBA科學(xué)儀器事業(yè)部
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儀器介紹：
在鍍膜或刻蝕的過程中,，實時監(jiān)測樣品膜的膜厚以及光學(xué)常數(shù)（n,k）變化。
技術(shù)參數(shù)：
·可實現(xiàn)快速,、實時在線監(jiān)測樣品膜層變化
主要特點：
將激發(fā)和探測頭引入生產(chǎn)設(shè)備，可實現(xiàn):
· 動態(tài)模式:實時監(jiān)測膜厚變化
· 光譜模式：監(jiān)測薄膜的界面和組分
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企業(yè)名稱
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信用代碼
-法人代表
注冊地址
成立日期
注冊資本
有效期限
經(jīng)營范圍
400-810-0069轉(zhuǎn)9287
手機(jī)版：
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