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BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位分析儀

BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位分析儀
丹東百特  2025-01-10  |  閱讀:1318

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背向 +90°散射粒度

 +Zeta 電位 +0°光電模塊四合一型


產(chǎn)品介紹

BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀是丹東百特儀器有限公司2024年最新推出的表征納米體系特性的頂級光學(xué)檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動態(tài)光散射DLS,、電泳光散射ELS,、靜態(tài)光散射SLS以及透射光檢測技術(shù),可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布,,Zeta電位,,高分子和蛋白體系的分子量,、液體的折射率、以及顆粒物濃度信息等等參數(shù),,可廣泛的應(yīng)用于化學(xué),、化工、生物,、制藥,、食品、材料等等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析質(zhì)量控制用途,。


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基本性能指標

粒徑檢測(動態(tài)光散射法)

? 粒徑范圍:0.3 nm–15 μm

? 最小樣品量:3 μL

? 檢測角度:173°+ 90°+ 12°

? 分析算法:Cumulants,、通用模式、CONTIN,、NNLS


沉降法粒度測試

? 檢測方法:沉降法

? 粒徑范圍:1 μm – 50 μm

? 檢測角度:0°

? 樣品量:1 - 3 mL


Zeta電位測試

? 檢測角度:12°

? Zeta范圍:無實際限制

? 電泳遷移率范圍:> ±20 μ.cm/V.s

? 電導(dǎo)率范圍:0 - 260 mS/cm

? Zeta測試粒徑范圍:2 nm –>120 μm


分子量測試

分子量范圍:342 Da – 2 x 107 Da 


微流變測試

測試能力:均方位移,、復(fù)數(shù)模量、彈性模量,、粘性模量,、蠕變?nèi)崃?/p>


趨勢測試

模式:時間和溫度


濃度檢測

? 檢測方法:LEDLS

? 測試能力:體積分數(shù)和數(shù)量濃度


折光率測試

? 檢測方法:楔形池樣品折射(無需示蹤粒子)

? 檢測角度:0°

? RI范圍:1.2-1.6

? 精度:優(yōu)于0.1%

? 最小樣品量:380 μL


系統(tǒng)參數(shù)

? 溫控范圍:-15°C - 120°C

? 冷凝控制:干燥空氣或者氮氣

? 標準激光光源:50 mW 高性能固體激光器, 671 nm

? 相關(guān)器:快,、中,、慢多模式,最快25 ns采樣,,最多4000通道,,1011動態(tài)線性范圍

? 檢測器:APD (高性能雪崩光電二極管)+ PD + CMOS

? 光強控制:0.0001% - 100%,手動或者自動


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檢測參數(shù)

動態(tài)光散射

? 流體力學(xué)尺寸 Dh

? 分布系數(shù) PD.I? 擴散系數(shù) D

? 顆粒間相互作用力因子kd

? 顆粒體系的光強,、體積,、面積和數(shù)量分布

? 計算分子量? 溶液粘度和折射率

? 流變學(xué)信息G*,G‘,,G“,,η*,J


電泳光散射

? Zeta電位及其分布

? 帶電顆粒的電泳遷移率


透射

? 透射濁度

? 顆粒物濃度

? 液體折射率

? 沉降法粒度和粒度分布測試


趨勢測試

? Zeta電位和粒徑的pH滴定

? 粒徑和Zeta電位的溫度趨勢測試


靜態(tài)光散射

? 絕對分子量Mn,、Mw,、Mz

? 分子量分布

? 第二維利系數(shù)A2


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選配件


? 動靜態(tài)流動模式

BeNano動靜態(tài)流動模式(Flow Mode)是將納米粒度及Zeta電位儀同一個分離前端(FFF、GPC/SEC)相連接,。分離前端可以根據(jù)尺寸將樣品進行分離,,依次流出。通過檢測每個流出組分的動態(tài)光散射信號和靜態(tài)光散射號,,并結(jié)合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號,,得到高分辨率且不依賴于計算模型的粒徑分布、分子量分布信息。


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? BAT-1自動滴定儀

樣品的Zeta電位和粒徑對于分散液介質(zhì)環(huán)境具有強烈的依賴性,,尤其是環(huán)境pH,,不但影響Zeta電位的大小,而且會影響顆粒體系的帶電符號,。BAT-1自動滴定儀與BeNano系列連用,,內(nèi)置三個高精度滴定泵和一個樣品輸送泵,具有樣品攪拌能力,,可以對于樣品的粒徑和Zeta電位進行自動化的酸堿滴定測試,,具有測試效率高、精確定量,、重復(fù)性好,、結(jié)果不依賴于操作者等特點。由于盛放樣品的樣品管可拋棄,,避免了交叉污染的風險。


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? BeScan穩(wěn)定性分析儀

BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備,,通過檢測得到樣品隨空間分布,、時間、溫度的不穩(wěn)定性變化,,并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS,,粒子遷移速度及樣品粒徑隨時間的變化曲線等信息。BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度,,能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化,,從而極大的節(jié)約檢測時間,縮短配方研制周期,。BeScan與BeNano聯(lián)合使用,,通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。


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