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剖析,!MLCC容量受哪些因素影響,?


來源:中國粉體網   空青

[導讀]  對于高端MLCC而言,不論是小尺寸還是高容量,,都指向材料的精密度和介電性能,。

中國粉體網訊  近年來,,隨著電子設備技術迭代,,汽車電子化利用率的提高,,物聯網、人工智能產業(yè)的發(fā)展,,使各類電子化產品的功能呈現出多元化趨勢,,復雜性也在逐步增強,對高端MLCC的需求也隨之增長,。




而對于高端MLCC而言,,不論是小尺寸還是高容量,都指向材料的精密度和介電性能,。若要在一定的體積上提升電容量,一是材料上增加介電常數,、二是降低介質厚度,,增加MLCC內部的疊層數量,。因此,原材料和制備工藝都是關鍵要素,。


來源:國瓷材料


配料對MLCC容量的影響


配料是將陶瓷粉末,、PVB 粘合劑、有機溶劑(甲苯,、無水乙醇),、添加劑(包括分散劑增塑劑,、消泡劑,、稀釋劑等)按照一定比例和順序充分混合,經過砂磨機,,在一定的砂磨時間及轉速作用下,,將各組分充分分散均勻,使粘合劑均勻的包裹在陶瓷粉末上,,形成具有一定流動性的穩(wěn)定的陶瓷漿料,,以備流延使用。這是MLCC制備的第一步,,也是至關重要的一步,,從產品的角度來講,配料工藝的好壞,,直接決定了最終產品質量的好壞,。配料對MLCC容量的影響,主要是體現在以下幾個方面:


瓷漿的粒度,、比表面積:瓷漿的粒度越小,,比表面積越大,表面能越大,,活性越高,,燒結時的溫度越低,相同條件下,,燒結收縮率越大,,燒結致密性越好,對應的介質厚度越小,,容量越大,。

瓷漿的粘度、固含量:固含量越大,,粘度相對也更大,,相同條件下,燒結膜厚收縮越小,,對應的介質厚度越大,,容量越小,。


流延對MLCC容量的影響


流延是將配料制得的陶瓷漿料,經過流延頭,,將陶瓷漿料均勻的涂布在PET膜上,,再經過烘箱烘干,從而獲得厚度均勻的陶瓷膜片,。流延對MLCC容量的影響,,主要體現在以下幾個方面:


陶瓷膜片的厚度、重量:陶瓷膜片的厚度不均勻,,會導致容量分散,,集中度差。

陶瓷膜片的密度:膜片密度越大(面密度越高),,相同條件下,,燒結膜厚收縮相對較小,對應的介質厚度越大,,容量越小,。

膜片外觀




進氣排氣量:在流延過程中,排氣量一般要比進氣量大,,在一定的體積內產生負壓,,有利于揮發(fā)出來的溶劑蒸汽的排出。但是負壓過大,,容易將烘箱內的熱量排出,,烘箱內溫度不足,導致瓷漿的溶劑揮發(fā)不完全,,膜片“較濕”,,膜片密度較大,容量越小,。


印刷對MLCC容量的影響


絲網印刷是在流延好的膜片上,,通過絲網將內電極漿料印刷在陶瓷膜片上,經過高溫烘干,,從而形成具有一定形狀和尺寸的電極圖形,,經過疊層錯位的方式形成MLCC 的內電極結構。




印刷對MLCC容量的影響,,主要是體現在以下幾個方面:


電極圖形:電極圖形越清晰,,針孔,白點,,鋸齒,,毛刺越小,電極圖形越完整,內電極圖形有效面積越大,,對應的容量越大,。

印刷內電極印重、印厚:印刷內電極印重或印厚越大,,對應的容量越大。

電極肥大,、重影,、電極滲開:電極肥大或重影,會造成圖形尺寸偏大,,電極有效面積越大,,對應的容量越大,但是可靠性會降低,。電極滲開是印刷圖形邊緣存在類似水印的現象,,會造成容量分散,容量命中率變差,。


疊層對MLCC容量的影響


疊層是將印刷好內電極的陶瓷膜片,,根據設計要求,按照一定的錯位方式交錯的疊壓在一起,,形成一個巴塊,。疊層的對位精度,將直接影響到上下電極的正對面積,,進而影響產品的容量,。



疊層對MLCC容量的影響, 主要是體現在以下幾個方面:


設計層數:通常設備會按照設計層數進行堆疊,,但是出現技術錯誤,,就會造成實際疊層層數和設計層數的有偏差,影響產品容量,。

疊層巴厚:疊層時的溫度越高,,壓力越大,巴塊的巴厚越薄,,相應的介質膜片變薄,,容量變大。


排膠和燒結對MLCC容量的影響


排膠和燒結是MLCC制備的關鍵工序,,其目的是避免瓷體燒結時有機物的快速揮發(fā)導致分層和開裂等缺陷,。選擇合適的溫度、升溫速率和排氣量會直接影響MLCC芯片的排膠效果,。


MLCC的燒結是陶瓷和含有金屬的內電極共燒的,,而二者開始收縮的溫度和收縮率是不同的。極限的高端MLCC產品,單層陶瓷介質上只有3-5個陶瓷顆粒,,最多要疊幾百到一千層,,內部結構的變化非常容易導致產品內部出現裂紋,因此燒結爐的升溫速率,、控溫精度和合理的燒結工藝的制定非常關鍵,。


對于薄層介質的高容產品(<3μm),內電極和介質之間的收縮率差異更明顯,,通常采用 RHK 快速燒結工藝(25 ℃/min),,實現內電極和介質共燒,減少了電極漿料團聚和孔洞現象的產生,,改善了內電極的連續(xù)性,,從而提高了產品容量。


倒角對 MLCC 容量的影響


倒角是將燒結后的芯片,、球磨介質,、水和添加劑按一定比例充分混合,在一定轉速的研磨下,,將芯片表面打磨光滑,,使內電極充分暴露的過程。對于高容產品,,由于燒結后的產品內應力大,,倒角后,容易出現微裂,、分層甚至開裂的現象,,導致MLCC容量會偏低或分散,通�,?梢圆捎脽吧箒砀纳茻Y后熟倒,,避免燒結后應力過大開裂。


倒角前后形態(tài)示意圖


電鍍對 MLCC 容量的影響


電鍍是燒端后的芯片,,在電鍍溶液中,,利用電化學反應,在芯片的金屬表面沉積鎳和錫的過程,。根據產品燒端后的情況,,有些產品會在電鍍前對端電極層進行鍍前處理,確保端電極的致密,,避免在端鍍過程出現鍍液滲漏的現象,,導致容量低。


參考來源:

林顯竣等:制備工藝對多層陶瓷電容器容量的影響研究

胡程康:鈦酸鋇陶瓷的冷燒結工藝探索及性能研究

微容科技:MLCC制作流程詳解


(中國粉體網編輯整理/空青)

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作者:空青

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