德國(guó)和西班牙兩國(guó)科研小組合作,,利用紅外線納米近場(chǎng)顯微鏡發(fā)明了一種無干擾檢測(cè)納米半導(dǎo)體材料張力的新方法,,這一新方法為科學(xué)家研究半導(dǎo)體材料的物理性能,以及測(cè)量納米級(jí)半導(dǎo)體元器件的性能提供了新的可能,。 [更多]
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