推薦美新技術對單個納米粒子質(zhì)量高精度測量

中國粉體網(wǎng)2月8日訊 據(jù)物理學家組織網(wǎng)日前報道,，美國麻省理工學院的研究人員開發(fā)出一種技術,，能夠?qū)�單個納米粒子的質(zhì)量進行高精度測量，分辨率比上一代設備提高了30倍,，精度可達0.85阿克（即attograms,，1阿克等于10的[更多]