參考價(jià)格
10-20萬元型號(hào)
F-Sorb 2400品牌
金埃譜產(chǎn)地
北京樣本
暫無測(cè)量范圍:
0.005(㎡/g)--至無上限(比表面積)誤差率:
/分辨率:
/重現(xiàn)性:
≤2%儀器原理:
靜態(tài)容量法分散方式:
/測(cè)量時(shí)間:
5分鐘看了氮吸附比表面積分析儀的用戶又看了
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金埃譜科技是國(guó)內(nèi)*早參與比表面積標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)標(biāo)定的機(jī)構(gòu),測(cè)試結(jié)果與國(guó)外數(shù)據(jù)可比性平行性**,并獲取權(quán)威認(rèn)證機(jī)構(gòu)的檢測(cè)證書,同時(shí)金埃譜科技也是國(guó)內(nèi)同行業(yè)中注冊(cè)資本規(guī)模**,**通過ISO9001質(zhì)量認(rèn)證的生產(chǎn)企業(yè),雄厚實(shí)力和完善的質(zhì)量及服務(wù)體系,讓您選購(gòu)的產(chǎn)品無后顧之憂!
全自動(dòng)氮吸附比表面積分析儀性能參數(shù)
測(cè)試方法:BET法比表面積(多點(diǎn)及單點(diǎn))分析,Langmuir比表面積分析,炭黑外比表面積分析,平均粒徑估算,直接對(duì)比法比表面積分析,氮吸附連續(xù)流動(dòng)法,樣品吸附常數(shù)C測(cè)定
測(cè)試功能:F-Sorb智能化測(cè)試模式,無人干預(yù)全自動(dòng)測(cè)試,消除人為操作誤差,提高測(cè)試精度
測(cè)量范圍:0.005(㎡/g)--至無上限(比表面積)
流量調(diào)節(jié):F-Sorb**功能,實(shí)現(xiàn)不同P/Po點(diǎn)流量軟件控制自動(dòng)調(diào)節(jié),無需人工手動(dòng)調(diào)節(jié)流量
定量標(biāo)定:F-Sorb型定量氣路由軟件控制,按需自動(dòng)切換脫附,無需人工手動(dòng)操控定量開關(guān),提高定量標(biāo)定精度
控制系統(tǒng):獨(dú)有的集中的多功能控制系統(tǒng),能實(shí)現(xiàn)測(cè)試過程的完全自動(dòng)化及智能化,測(cè)試期間無需任何人工干預(yù),儀器自動(dòng)執(zhí)行測(cè)試
樣品數(shù)量:可同時(shí)進(jìn)行4個(gè)樣品的吸附或脫附測(cè)定,樣品測(cè)試系統(tǒng)和樣品處理系統(tǒng)相互獨(dú)立,并且樣品測(cè)試和樣品處理可以同時(shí)進(jìn)行,避免了測(cè)試管路受到污染,從而進(jìn)一步確保測(cè)試的精度和提高儀器使用壽命
測(cè)試壓力:常壓下進(jìn)行,無需抽真空,有利于快速的比表面積分析
測(cè)試精度:測(cè)量重復(fù)性誤差≤2%;≤1.5%直接對(duì)比法
樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等,適用于幾乎所有樣品比表面積分析,應(yīng)用廣泛
測(cè)試氣體:載氣為高純He氣(99.99%),吸附質(zhì)為高純N2(99.99%)或其它(按需選擇如Ar,Kr)
管路密封:采用高真空系統(tǒng)不銹鋼管路,高密封性能,有效防止氣體分子滲透導(dǎo)致的比表面積分析誤差;同時(shí)不銹鋼管不存在老化問題,大大提高儀器穩(wěn)定性和使用壽命
測(cè)試時(shí)間:每樣品每 P/P0點(diǎn)吸附和脫附平均時(shí)間為5分鐘(視樣品吸附特性變化),四個(gè)樣品分析平均時(shí)間20分鐘左右(同時(shí)可測(cè)四個(gè)樣品),比表面積結(jié)果自動(dòng)由軟件實(shí)時(shí)得出
數(shù)據(jù)采集:高精度及高集成度數(shù)據(jù)采集及處理芯片,誤差小,抗干擾能力強(qiáng)
數(shù)據(jù)處理:BET單點(diǎn)及多點(diǎn)線性擬合圖,圖形化數(shù)據(jù)分析結(jié)果報(bào)表,可根據(jù)需要選擇中英文格式結(jié)果報(bào)表.分析與數(shù)據(jù)處理可同時(shí)進(jìn)行,檢測(cè)結(jié)果實(shí)時(shí)顯示,詳細(xì)的自動(dòng)操作步驟記錄及數(shù)據(jù)隨測(cè)試結(jié)果文件保存
全自動(dòng)氮吸附比表面積分析儀特點(diǎn)
A.氮吸附比表面積分析儀結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
1)簡(jiǎn)潔緊湊的外觀結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),節(jié)省空間;可拆卸前面板防護(hù)罩,有效防止液氮濺灑安全隱患,同時(shí)降低環(huán)境因素對(duì)比表面積分析過程的影響
2)采用全不銹鋼管路系統(tǒng),提高密封性能,有效防止氣體分子滲透導(dǎo)致的比表面積分析誤差;同時(shí)不銹鋼管不存在老化問題,可靠性和壽命大大提高
3)模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),有利于根據(jù)用戶比表面積分析測(cè)試需求按需配置及后期功能擴(kuò)展
B.氮吸附比表面積分析儀控制系統(tǒng)
1)采用先進(jìn)的控制技術(shù),集中的多功能控制系統(tǒng),一體化電機(jī)螺桿升降系統(tǒng),比表面積分析過程中液氮容器升降更平穩(wěn)
2)**的電橋平衡電路,大幅提高信號(hào)電壓靈敏度,同時(shí)實(shí)現(xiàn)信號(hào)零點(diǎn)漂移自動(dòng)平衡,有利于實(shí)現(xiàn)比表面積分析的自動(dòng)化
3)完整的自動(dòng)化操作設(shè)計(jì),徹底實(shí)現(xiàn)比表面積分析過程智能化,無需人工干預(yù)或看守,大大降低測(cè)定人員工作量,提高工作效率
C.氮吸附比表面積分析儀數(shù)據(jù)采集及處理
1)高精度數(shù)據(jù)采集,、信號(hào)放大及A/D轉(zhuǎn)換系統(tǒng)高度集成化,抗干擾能力強(qiáng),實(shí)時(shí)性高,有利于降低比表面積儀的比表面積分析過程受環(huán)境因素的影響
2)自主開發(fā)的Windows兼容數(shù)據(jù)處理軟件,功能完善,用戶界面靈活定制,操作簡(jiǎn)單易懂;**的比表面積數(shù)據(jù)處理模型,有效消除系統(tǒng)誤差,提高比表面積分析精度
3)數(shù)據(jù)報(bào)告按需定制,多種形式的數(shù)據(jù)分析模式,方便用戶研究比表面積分析結(jié)果;強(qiáng)大的分析測(cè)試數(shù)據(jù)歸檔保存,查詢系統(tǒng),有利于用戶數(shù)據(jù)管理
D.氮吸附比表面積分析儀測(cè)試優(yōu)化
1)針對(duì)不同范圍樣品比表面積分析測(cè)定要求,可"因地制宜"選擇合適的儀器參數(shù)設(shè)置,有利于提高比表面積測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確度
2)靈活的直接對(duì)比法比表面積分析與BET法比表面積分析轉(zhuǎn)換,簡(jiǎn)化操作流程,提高比表面積測(cè)試效率
暫無數(shù)據(jù)!
摘要:硬脂酸鎂是制藥界廣泛應(yīng)用的藥物輔料,,因?yàn)榫哂辛己玫目拐承?、增流性和?rùn)滑性在制劑生產(chǎn)中具有十分重要的作用,作為常用的藥用輔料潤(rùn)滑劑,,比表面積對(duì)硬脂酸鎂有很大的影響,,硬脂酸鎂的比表面積越大,其極性越
2022-07-05
陶瓷材料具有高熔點(diǎn),、高硬度,、高耐磨性、耐氧化等一系列特點(diǎn),,被廣泛應(yīng)用于電子工業(yè),、汽車工業(yè)、紡織,、化工,、航空航天等國(guó)民經(jīng)濟(jì)的各個(gè)領(lǐng)域。陶瓷材料的物理性能很大程度上取決于其微觀結(jié)構(gòu),,是掃描電鏡重要的應(yīng)用領(lǐng)
2022-09-27
近期,國(guó)儀量子傳感交付與客戶成功團(tuán)隊(duì)在全國(guó)范圍內(nèi)成功開展了【儀心儀意】客戶服務(wù)季活動(dòng),,通過深入多地客戶現(xiàn)場(chǎng),,開展多項(xiàng)專業(yè)服務(wù),切實(shí)保障客戶儀器穩(wěn)定運(yùn)行,。01安徽大學(xué)在安徽大學(xué),,服務(wù)工程師姜旭盟為老師們
在當(dāng)今追求節(jié)能減排與舒適生活環(huán)境的時(shí)代,,智能窗戶作為一種新型節(jié)能設(shè)備成為建筑節(jié)能領(lǐng)域的研究熱點(diǎn),。其中,,熱致變色智能窗戶能依據(jù)外界溫度變化,自動(dòng)調(diào)節(jié)太陽(yáng)光透過率,,在降低建筑能耗方面潛力巨大,。然而,現(xiàn)有的
近日,國(guó)儀量子【鏡心鏡意】用戶關(guān)懷周活動(dòng)走進(jìn)了浙江大學(xué)杭州國(guó)際科創(chuàng)中心,。在浙大國(guó)創(chuàng)中心電鏡機(jī)組老師的大力支持下,,為期三天的培訓(xùn)活動(dòng)順利舉行。本次活動(dòng)聚焦理論學(xué)習(xí),、設(shè)備日常維護(hù)及上機(jī)實(shí)操三部分,,旨在幫助
國(guó)儀量子電鏡在芯片金屬柵極刻蝕殘留檢測(cè)的應(yīng)用報(bào)告一、背景介紹 在芯片制造工藝中,,金屬柵極刻蝕是構(gòu)建晶體管關(guān)鍵結(jié)構(gòu)的重要環(huán)節(jié),。精確的刻蝕工藝能夠確保金屬柵極的尺寸精度和形狀完整性,對(duì)芯片的性能
國(guó)儀量子電鏡在芯片后道 Al 互連電遷移空洞檢測(cè)的應(yīng)用報(bào)告一,、背景介紹 隨著芯片集成度不斷攀升,,芯片后道 Al 互連技術(shù)成為確保信號(hào)傳輸與芯片功能實(shí)現(xiàn)的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。在芯片工作時(shí),,Al 互連導(dǎo)線
國(guó)儀量子電鏡在芯片鈍化層開裂失效分析的應(yīng)用報(bào)告一,、背景介紹在半導(dǎo)體芯片制造領(lǐng)域,芯片鈍化層扮演著至關(guān)重要的角色,。它作為芯片的 “防護(hù)鎧甲”,,覆蓋在芯片表面,隔絕外界環(huán)境中的濕氣,、雜質(zhì)以及機(jī)械應(yīng)力等不利