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面議型號
Saturn 3510品牌
中電科風華產(chǎn)地
山西樣本
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產(chǎn)品描述:應(yīng)用于GaN外延片的自動化缺陷檢測,。設(shè)備采用點共焦旋轉(zhuǎn)掃描的工作原理進行缺陷檢測,可以自動實時對焦和多通道采集數(shù)據(jù),,具有低噪聲和高分辨率成像等優(yōu)勢,,采用基于深度學習的自動缺陷檢測算法,晶圓檢測與數(shù)據(jù)分析能夠并行處理,,滿足4,、6、8英寸晶圓的生產(chǎn)檢測與器件良率提升的需求,。
產(chǎn)品參數(shù):
應(yīng)用范圍:GaN外延片自動化缺陷檢測
可測晶片尺寸:4,6,8英寸
暫無數(shù)據(jù),!