參考價格
面議型號
ASPIPER 3000 非線性光學(xué)晶圓缺陷檢測系統(tǒng)品牌
微崇半導(dǎo)體產(chǎn)地
北京樣本
暫無看了ASPIPER 3000 非線性光學(xué)晶圓缺陷檢測系統(tǒng)的用戶又看了
虛擬號將在 180 秒后失效
使用微信掃碼撥號
ASPIPER 3000
非線性光學(xué)晶圓缺陷檢測系統(tǒng)
ASPIRER 3000非線性光學(xué)晶圓缺陷檢測系統(tǒng)可以提供晶圓級別的缺陷檢測,,對界面及膜層質(zhì)量進(jìn)行綜合測試分析,提升各類制程的良率。獨(dú)有的非線性光學(xué)技術(shù)配合自主研發(fā)的檢測系統(tǒng)可提供超高的檢測靈敏度,,并對有,、無圖案晶圓均有良好的適用性。ASPIRER 3000機(jī)臺可滿足客戶在研發(fā)和量產(chǎn)中對晶圓質(zhì)量的快速,、無損,、精準(zhǔn)檢測需求。
產(chǎn)品特點(diǎn)
非接觸,、無損傷
快速檢測
在線檢測
軟件操作便捷
Wafer Map等多樣化表征手段
主要應(yīng)用
各類成膜工藝質(zhì)量的監(jiān)控
各類生產(chǎn)工藝機(jī)臺穩(wěn)定性的監(jiān)控
刻蝕等工藝對晶圓損傷的檢測與監(jiān)控
離子注入及退火工藝的質(zhì)量監(jiān)控
清洗等工藝質(zhì)量的監(jiān)控
暫無數(shù)據(jù)!