DPLS4000是一款基于高速數(shù)字采集卡和快γ探測(cè)器的正電子湮沒(méi)壽命測(cè)量一體機(jī)設(shè)備。**在商業(yè)化正電子湮沒(méi)壽命譜儀中實(shí)現(xiàn)了免調(diào)試,、自穩(wěn)定的功能,。

通過(guò)測(cè)量正電子在材料中的湮沒(méi)壽命的長(zhǎng)短，DPLS4000可以表征材料中的微觀結(jié)構(gòu)缺陷,。正電子進(jìn)入材料后根據(jù)所處微電子環(huán)境的不同有著不同的壽命,，材料中的缺陷孔洞越大，電子密度越小，相應(yīng)的正電子壽命也就越長(zhǎng),。

技術(shù)指標(biāo)

1. 時(shí)間分辨率≤190ps（使用Na-22測(cè)量正電子湮沒(méi)壽命譜）,；   

2. 時(shí)間分辨率≤155ps（使用Co-60測(cè)量符合時(shí)間譜）；

3. 具有一鍵設(shè)置功能,，自動(dòng)設(shè)置所有測(cè)量參數(shù)，用戶無(wú)需調(diào)試直接使用,；

4. 具有自動(dòng)校準(zhǔn)功能,，在測(cè)量過(guò)程中始終保持參數(shù)的穩(wěn)定；

5.     能量分辨率≤3.5%@1.275MeV,；

6. 時(shí)間采樣率≥5G/SPS,；

7. 幅度分辨率≥14位；

8. 典型陽(yáng)極脈沖上升時(shí)間≤0.8ns,；

9. 典型渡越時(shí)間分散≤0.37ns,；

10. 具有示波器功能；

11. 能窗自動(dòng)識(shí)別功能,；

12. 閃爍體探測(cè)器溴化鑭晶體尺寸≥Φ25mm x L15mm,；

13. 探測(cè)器集成分壓電路、磁屏蔽,；

14. 典型計(jì)數(shù)率100-200cps,；

15. 支持高計(jì)數(shù)率模式可達(dá)1000cps；

16. 采用Na-22放射源,，活度≥20μCi,。

產(chǎn)品特色

l 超高分辨：精選快γ探測(cè)器、高速數(shù)字采集卡,，結(jié)合**信號(hào)處理算法,，實(shí)現(xiàn)Co-60標(biāo)定時(shí)間分辨率小于155ps，1.275MeV處能量分辨率小于3.5%,，各項(xiàng)參數(shù)均達(dá)到行業(yè)**水平,。

l 一機(jī)集成：DPLS4000使用模塊化設(shè)計(jì)，將所有設(shè)備集成在機(jī)箱中,，設(shè)備占地面積小,，安裝移動(dòng)快捷，可以在各種場(chǎng)景中使用,。

l 一鍵測(cè)量：利用AI算法實(shí)現(xiàn)自動(dòng)設(shè)置,，省去繁復(fù)的調(diào)試過(guò)程，消除使用門檻,，真正讓用戶開(kāi)機(jī)即用,、一鍵測(cè)量。