參考價(jià)格
80-90萬元型號(hào)
DPLS4000品牌
核芯電子產(chǎn)地
中國樣本
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DPLS4000是一款基于高速數(shù)字采集卡和快γ探測器的正電子湮沒壽命測量一體機(jī)設(shè)備,。**在商業(yè)化正電子湮沒壽命譜儀中實(shí)現(xiàn)了免調(diào)試、自穩(wěn)定的功能,。
通過測量正電子在材料中的湮沒壽命的長短,,DPLS4000可以表征材料中的微觀結(jié)構(gòu)缺陷。正電子進(jìn)入材料后根據(jù)所處微電子環(huán)境的不同有著不同的壽命,,材料中的缺陷孔洞越大,,電子密度越小,相應(yīng)的正電子壽命也就越長,。
1. 時(shí)間分辨率≤190ps(使用Na-22測量正電子湮沒壽命譜),;
2. 時(shí)間分辨率≤155ps(使用Co-60測量符合時(shí)間譜);
3. 具有一鍵設(shè)置功能,,自動(dòng)設(shè)置所有測量參數(shù),,用戶無需調(diào)試直接使用;
4. 具有自動(dòng)校準(zhǔn)功能,,在測量過程中始終保持參數(shù)的穩(wěn)定,;
5. 能量分辨率≤3.5%@1.275MeV;
6. 時(shí)間采樣率≥5G/SPS,;
7. 幅度分辨率≥14位,;
8. 典型陽極脈沖上升時(shí)間≤0.8ns;
9. 典型渡越時(shí)間分散≤0.37ns,;
10. 具有示波器功能,;
11. 能窗自動(dòng)識(shí)別功能;
12. 閃爍體探測器溴化鑭晶體尺寸≥Φ25mm x L15mm,;
13. 探測器集成分壓電路,、磁屏蔽;
14. 典型計(jì)數(shù)率100-200cps,;
15. 支持高計(jì)數(shù)率模式可達(dá)1000cps,;
16. 采用Na-22放射源,活度≥20μCi,。
l 超高分辨:精選快γ探測器,、高速數(shù)字采集卡,結(jié)合**信號(hào)處理算法,,實(shí)現(xiàn)Co-60標(biāo)定時(shí)間分辨率小于155ps,,1.275MeV處能量分辨率小于3.5%,各項(xiàng)參數(shù)均達(dá)到行業(yè)**水平,。
l 一機(jī)集成:DPLS4000使用模塊化設(shè)計(jì),,將所有設(shè)備集成在機(jī)箱中,設(shè)備占地面積小,,安裝移動(dòng)快捷,,可以在各種場景中使用,。
l 一鍵測量:利用AI算法實(shí)現(xiàn)自動(dòng)設(shè)置,省去繁復(fù)的調(diào)試過程,,消除使用門檻,,真正讓用戶開機(jī)即用、一鍵測量,。
1.對(duì)空位型缺陷(如單空位,、空位團(tuán)、納米孔洞等)的檢測靈敏度極高(可達(dá)ppm級(jí)),,遠(yuǎn)超XRD和常規(guī)電鏡,;
2.無需復(fù)雜樣品制備(如切片、鍍膜,、高真空環(huán)境),,可分析塊體、粉末,、薄膜、多孔材料等多種形態(tài),;且對(duì)樣品是無損檢測,;
3.可以實(shí)現(xiàn)多環(huán)境加持的原位測量