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面內(nèi)導(dǎo)率測量系統(tǒng)(SDTR)品牌
昊遠精測產(chǎn)地
上海樣本
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熱反射面內(nèi)熱導(dǎo)率測量系統(tǒng)基于“泵浦-探測”原理,,采用空間域熱反射法(Spatial Domain Thermal Reflection,,縮寫為:SDTR),能夠準確測量從薄膜到塊體材料的完整的面內(nèi)熱導(dǎo)率張量,。系統(tǒng)自動化程度高,,操作簡便,特別適合大批量快速測量,。
特點與優(yōu)勢
可測量完整的面內(nèi)熱導(dǎo)率張量
各向同性材料熱導(dǎo)率測量高性價方案
結(jié)構(gòu)緊湊
可靠性高,、免維護
1、電源需求:110/220 VAC, 50/60 Hz, 15 Amp
2,、激光波長:泵浦638 nm,,探測785 nm(標配,可根據(jù)用戶需求選配)
3,、激光功率:泵浦100 mW,,探測20 mW(標配,可根據(jù)用戶需求選配)
4,、調(diào)制頻率范圍:標配DC-5MHz,,可升級到50MH,200MHz
5,、顯微成像:標配,,可觀察樣品表面狀況及激光光斑位置
6、測溫范圍:標配室溫,,可增配80-500 K,、300-1200 K、4-300 K等不同溫區(qū)的變溫模塊
7、軟件:全自動數(shù)據(jù)測量與分析處理,、數(shù)據(jù)導(dǎo)出,、報告生成
面內(nèi)各向異性熱導(dǎo)率張量測量結(jié)果
以X切石英晶體為例:
光學(xué)交流量熱法不要求激光光斑有嚴格的圓度即能準確測量面內(nèi)熱導(dǎo)率張量
暫無數(shù)據(jù)!