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核心技術(shù)：
**光學(xué)設(shè)計(jì)達(dá)到業(yè)界*低信噪比
**AI影像比對技術(shù)，漏檢率達(dá)到*低
結(jié)合光學(xué)及影像處理技術(shù),，在高反光背景材料和透明材料上均能清晰檢測待測物
先進(jìn)性：
采用**雙非球面鏡頭設(shè)計(jì),，搭配光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)以及AI影像比對技術(shù)，顯著提升AOI設(shè)備3D檢測能力,，Z軸解析度可達(dá)2um,，漏檢率低至<0.3%。
技術(shù)完全自主,，可根據(jù)客戶需求針對不同產(chǎn)品檢測做定制化設(shè)計(jì),，協(xié)助客戶達(dá)到高良率與**品質(zhì)
簡介： 核心技術(shù)： **光學(xué)設(shè)計(jì)達(dá)到業(yè)界*低信噪比 **AI影像比對技術(shù)，漏檢率達(dá)到*低 結(jié)合光學(xué)及影像處理技術(shù),，在高反光背景材料和透明材料上均能清晰檢測待測物 先進(jìn)性： 采用**雙非球面鏡頭設(shè)計(jì),，搭配光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)以及AI影像比對技術(shù)，顯著提升AOI設(shè)備3D檢測能力,，Z軸解析度可達(dá)2um,，漏檢率低至<0.3%。 技術(shù)完全自主,，可根據(jù)客戶需求針對不同產(chǎn)品檢測做定制化設(shè)計(jì),，協(xié)助客戶達(dá)到高良率與**品質(zhì)
品牌： Honhor
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