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近紅外顯微分光光度計品牌
光量科技產(chǎn)地
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-分辨率：
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20/30 PV顯微分光光度計是CRAIC技術(shù)公司*強(qiáng)大的顯微分析儀器。為了滿足用戶需求,，該定制儀器集成了*前沿的光學(xué),、光譜及軟件開發(fā)技術(shù)以提供**的速度和性能,。同時，被用戶熟知的CRAIC儀器的易用性也有所提升,，使得該儀器成為紫外-可見-近紅外顯微光譜學(xué)中的佼佼者,。
主要特性
? 光譜范圍：200-2100nm
? 紫外-可見-近紅外透射顯微光譜
? 紫外-可見-近紅外透射成像
? 紫外-可見-近紅外反射顯微光譜
? 紫外-可見-近紅外反射成像
? 紫外-可見-近紅外熒光顯微光譜
? 紫外-可見-近紅外熒光顯微成像
? 拉曼顯微光譜
? 紫外-可見-近紅外范圍內(nèi)的偏振顯微光譜
? 紫外-可見-近紅外范圍內(nèi)的偏振微區(qū)成像
? 薄膜厚度測量
? 微觀樣品的色度測量
? 結(jié)合rIQ進(jìn)行折射率的測量
? 手動或全自動操作
? 配備Lightblades技術(shù)
? 集成TE制冷陣列探測器以提供超低噪聲和長期穩(wěn)定性
紫外-可見-近紅外顯微光譜
顯微光譜***中的尖端產(chǎn)品
該儀器是一個完全集成的顯微光譜單元，光譜范圍包括從紫外到可見到近紅外,?？赏瑫r對采樣孔徑和樣品直接成像從而進(jìn)行快速精確的測量。20/30 PV搭載Lightblades技術(shù),，即便尺寸在亞微米樣品的透射,，反射，偏振,，熒光光譜也能測量,。CRAIC Technologies也是美國國家標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究所（NIST）可追溯分光光度計標(biāo)準(zhǔn)**認(rèn)可的來源。
暫無數(shù)據(jù),！
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