參考價(jià)格
面議型號(hào)
FLEX顯微分光光度計(jì)品牌
光量科技產(chǎn)地
北京樣本
暫無(wú)誤差率:
-波長(zhǎng)準(zhǔn)確度:
-靈敏度:
-分辨率:
-重現(xiàn)性:
-儀器原理:
其他分散方式:
-測(cè)量時(shí)間:
-測(cè)量范圍:
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FLEX是CRAIC中兼具全能性和靈活性配置的儀器,它用光復(fù)用器Lightswitch把紫外-可見(jiàn)-近紅外光學(xué)器件,,分光光度計(jì)數(shù)字成像及軟件都結(jié)合到一起,。通過(guò)Lightswitch技術(shù),,F(xiàn)LEX保留了大家熟知的CRAIC的易用性,,同時(shí)能夠進(jìn)行紫外-可見(jiàn)-近紅外光譜測(cè)量,高分辨顯微成像,,折射率測(cè)量等,。
以一個(gè)有吸引力的價(jià)格為切入點(diǎn),F(xiàn)LEX分光光度計(jì)利用測(cè)試技術(shù)來(lái)測(cè)量紫外-可見(jiàn)-近紅外范圍的透射,,吸收,,反射,輻射和熒光微區(qū)光譜,。在獲取顯微光譜的同時(shí),,樣品可通過(guò)高分辨彩色數(shù)字成像系統(tǒng)或目鏡進(jìn)行成像。附加功能還包括顯微樣品的折射率及色度測(cè)量,,及微區(qū)的薄膜厚度測(cè)量,。
此外,,F(xiàn)LEX分光光度計(jì)在獲得**成像質(zhì)量和光譜的同時(shí),提供了**吸引力的價(jià)格,。
? 紫外-可見(jiàn)-近紅外透射顯微光譜
? 紫外-可見(jiàn)-近紅外透射高分辨成像
? 透射,,反射,偏振及熒光顯微分光光度計(jì)
? 透射,,反射,,偏振及熒光顯微成像
? 拉曼分光光度計(jì)
? 薄膜厚度測(cè)量
? 顯微樣品色度測(cè)量
? 結(jié)合rIQ進(jìn)行折射率測(cè)量
? 配備Lightblades技術(shù)
? 集成TE制冷CCD陣列探測(cè)器以提供超低噪聲和長(zhǎng)期穩(wěn)定性
? 樣品溫度的精確控制
? 對(duì)樣品上小于一微米區(qū)域的校準(zhǔn)和變量測(cè)量
? 同時(shí)使用目鏡和數(shù)字成像的**成像功能
? 搭配Lambdafire光譜,成像控制及分析軟件,。
? 專業(yè)的軟件模塊,,包括統(tǒng)計(jì)分析,光譜數(shù)據(jù)庫(kù),,成像分析等
? 易于使用和維護(hù)
? 來(lái)源于顯微光譜領(lǐng)域?qū)<?/span>
紫外-可見(jiàn)-近紅外顯微光譜
高性價(jià)比顯微分光光度計(jì)
該儀器是一個(gè)完全集成的顯微光譜單元,,光譜范圍包括從紫外到可見(jiàn)到近紅外??赏瑫r(shí)對(duì)采樣孔徑和樣品直接成像從而進(jìn)行快速精確的測(cè)量,。20/30 PV搭載Lightblades技術(shù),即便尺寸在亞微米樣品的透射,,反射,,偏振,熒光光譜FLEX也能測(cè)量,。CRAIC Technologies也是美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究所(NIST)可追溯分光光度計(jì)標(biāo)準(zhǔn)**認(rèn)可的來(lái)源,。
暫無(wú)數(shù)據(jù)!