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Nicomp Z3000 納米粒徑與Zeta電位分析儀
Nicomp Z3000 納米粒徑與Zeta電位分析儀

參考價(jià)格

面議

型號(hào)

PSS Nicomp Z3000 Standard

品牌

美國(guó)PSS

產(chǎn)地

美國(guó)

樣本

暫無
美國(guó)PSS粒度儀公司

高級(jí)會(huì)員

|

第6年

|

生產(chǎn)商

工商已核實(shí)

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核心參數(shù)
  • 誤差率:

  • 分辨率:

  • 重現(xiàn)性:

    ±99%
  • 儀器原理:

    動(dòng)態(tài)光散射
  • 分散方式:

  • 測(cè)量時(shí)間:

    1-10min
  • 測(cè)量范圍:

    0.3nm-10um
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Nicomp 3000 系列納米激光粒度儀 專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案

儀器型號(hào):Z3000 Standard

工作原理:

粒度分布:動(dòng)態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)

ZETA電位:多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)

檢測(cè)范圍: 

粒徑范圍 0.3nm-10.0μm

ZETA電位 +/- 500mV

   

NicompZ3000系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號(hào)ZLS&S基礎(chǔ)上升級(jí)配套而來,采用動(dòng)態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理檢測(cè)分析顆粒的粒度分布,,同機(jī)采用多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)檢測(cè)ZETA電位,。粒徑檢測(cè)范圍 0.3nm – 10μm,ZETA電位檢測(cè)范圍為+/- 500mV,。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了高斯( Gaussian)單峰算法和擁有**技術(shù)的 Nicomp 多峰算法,,對(duì)于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有獨(dú)特優(yōu)勢(shì),。ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極,,一個(gè)電極可以使用成千上萬次,。另外,采用可變電場(chǎng)適應(yīng)不同的樣品檢測(cè)需求,。既保證檢測(cè)精度,,亦幫用戶大大節(jié)省檢測(cè)成本。



技術(shù)優(yōu)勢(shì)


1,、APD&PMT雙檢測(cè)器,;

2、多角度檢測(cè)(multi angle)模塊,;

3,、可搭配不同功率光源;

4,、雙列直插式電極和樣品池,,可反復(fù)使用成千上萬次;

5,、鈀電極,;

6、精確度高,,*接近樣品真實(shí)值,;

7、復(fù)合型算法:

 高斯(Gaussion)單峰算法與**的Nicomp多峰算法自由切換

 相位分析法(PALS)和頻譜分析法(FALS)自由切換

8,、快速檢測(cè),,可以追溯歷史數(shù)據(jù);

9,、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn),;

10、符合USP,CP等個(gè)多藥典要求,;

11,、無需校準(zhǔn);

12,、復(fù)合型算法:

(1)高斯(Gaussion)單峰算法與**的Nicomp多峰算法自由切換

10,、模塊化設(shè)計(jì)便于維護(hù)和升級(jí);

(1)可自動(dòng)稀釋模塊**,;

(2)搭配多角度檢測(cè)器,;

(3)自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)(選配);


Snipaste_2019-11-29_10-13-52.png3000/MA多角度檢測(cè)器


粒徑大于100 nm的顆粒在激光的照射下不會(huì)朝著各個(gè)方向散射,。多角度檢測(cè)角器通過調(diào)節(jié)檢測(cè)角度來增加粒子對(duì)光的敏感性來測(cè)試某些特殊級(jí)別粒子,。Nicomp 3000可以配備范圍在10°-175,步長(zhǎng)0.7°的多角度測(cè)角器,,從而使得單一90°檢測(cè)角測(cè)試不了的樣品,,通過調(diào)節(jié)角度進(jìn)行檢測(cè),,改善對(duì)大粒子多分散系粒徑分析的精確度。


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產(chǎn)品質(zhì)量

10分

售后服務(wù)

10分

易用性

10分

性價(jià)比

10分
評(píng)論內(nèi)容
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