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面議型號
PSS Nicomp Z3000 Standard品牌
美國PSS產(chǎn)地
美國樣本
暫無誤差率：
分辨率：
重現(xiàn)性：
±99%儀器原理：
動態(tài)光散射分散方式：
測量時間：
1-10min測量范圍：
0.3nm-10um看了Nicomp Z3000 納米粒徑與Zeta電位分析儀的用戶又看了
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Nicomp 3000 系列納米激光粒度儀 專為復雜體系提供高精度粒度解析方案
儀器型號：Z3000 Standard
工作原理：
粒度分布：動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）
ZETA電位：多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）
檢測范圍：
粒徑范圍 0.3nm-10.0μm
ZETA電位 +/- 500mV
NicompZ3000系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號ZLS&S基礎(chǔ)上升級配套而來，采用動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布,，同機采用多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）檢測ZETA電位,。粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm,，ZETA電位檢測范圍為+/- 500mV。其配套粒度分析軟件復合采用了高斯（ Gaussian）單峰算法和擁有**技術(shù)的 Nicomp 多峰算法,，對于多組分,、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有獨特優(yōu)勢。ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極,，一個電極可以使用成千上萬次,。另外，采用可變電場適應不同的樣品檢測需求,。既保證檢測精度,，亦幫用戶大大節(jié)省檢測成本。
技術(shù)優(yōu)勢
1,、APD&PMT雙檢測器,；
2、多角度檢測（multi angle）模塊,；
3,、可搭配不同功率光源；
4,、雙列直插式電極和樣品池,，可反復使用成千上萬次；
5,、鈀電極,；
6、精確度高,，*接近樣品真實值,；
7、復合型算法：
高斯（Gaussion）單峰算法與**的Nicomp多峰算法自由切換
相位分析法（PALS)和頻譜分析法（FALS）自由切換
8,、快速檢測,，可以追溯歷史數(shù)據(jù)；
9,、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn),；
10、符合USP,CP等個多藥典要求,；
11,、無需校準；
12,、復合型算法：
（1）高斯（Gaussion）單峰算法與**的Nicomp多峰算法自由切換
10,、模塊化設計便于維護和升級；
（1）可自動稀釋模塊**；
（2）搭配多角度檢測器,；
（3）自動進樣系統(tǒng)（選配）；
3000/MA多角度檢測器
粒徑大于100 nm的顆粒在激光的照射下不會朝著各個方向散射,。多角度檢測角器通過調(diào)節(jié)檢測角度來增加粒子對光的敏感性來測試某些特殊級別粒子,。Nicomp 3000可以配備范圍在10°-175，步長0.7°的多角度測角器,，從而使得單一90°檢測角測試不了的樣品,，通過調(diào)節(jié)角度進行檢測，改善對大粒子多分散系粒徑分析的精確度,。
暫無數(shù)據(jù),！
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