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面議型號
BA-100 E系列品牌
產(chǎn)地
美國樣本
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X-Ray熒光測厚儀,,通過X射線原理,是目前*方便快捷的鍍層測厚方法,,產(chǎn)品無須破壞,,約20秒完成測量整個(gè)過程。博曼測厚儀,,2009年,,位于美國芝加哥的團(tuán)隊(duì),,創(chuàng)立了博曼Bowman,在原CMI的基礎(chǔ)上,,研發(fā)更名為博曼,,更為高端的精密XRF鍍層測厚儀。2012年發(fā)布了全新BA-100系列機(jī)型,,使用SDD探測器技術(shù)XRF系統(tǒng),,是**性價(jià)比機(jī)型。美國博曼鍍層測厚儀,,也叫膜厚儀,,源自于CMI牛津團(tuán)隊(duì),2018年博曼發(fā)布了全球*小光斑7.5um FWHM的多導(dǎo)毛細(xì)管機(jī)型,,完善了從經(jīng)濟(jì)型號到端型號的系列產(chǎn)品線,,團(tuán)隊(duì)深耕XRF鍍層測厚儀事業(yè)三十余年,曾經(jīng)創(chuàng)立了測厚儀全球知名的CMI品牌,,具有代表性的機(jī)型,。
總代