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薄膜硅涂布量測試儀YL-X300
離型膜硅涂布量測試儀 越聯(lián)儀器生產(chǎn)
設(shè)備的測試原理:
YL-X300通過軟件程序控制,,讓X射線發(fā)生路產(chǎn)生適合的X射線去激發(fā)測試薄膜材料中的S或者其他元素,,被X射線激發(fā)后變?yōu)椴环€(wěn)定態(tài),高能層的電子會躍遷到空穴并同時釋放特定能量被探測器接收,,因每個元素都有自已特定的能量特征線,,通過探測器的識別,計算機軟件的計算,,即可準(zhǔn)確識別該元素,,并計算出含量。
YL-X300采用了大面積的晶體硅漂移探測器,,分辨率能夠達(dá)到125eV,,能分辨A(鋁)元素和Si(硅)元素。
設(shè)備優(yōu)勢及特點:
1,、測試采用 射線熒光光譜原理,,測試過程無需耗材;
2、光管垂直照射,,硅元素性能得到更強激發(fā),;
3、測試下限好,,可準(zhǔn)確測量0.1g/m的涂硅量,;’
4、采用大面積硅漂移探測器,,測試結(jié)果極其準(zhǔn)確,;
5、快速采用新的模型算法,,大大提高了輕元素的測量穩(wěn)定性,;
6、配置高清液晶顯示器,,測試過程和測試結(jié)果一目了然,;
7、設(shè)備集成多個usb接口,。數(shù)據(jù)和通訊傳輸滿足多種要求,;
8、空氣光路的內(nèi)部環(huán)境得到顯著優(yōu)化,,大氣環(huán)境一樣可以直接測試,;
9、一鍵測試,,操作簡單智能,,測試過程使用時間更短,結(jié)果更準(zhǔn)確,。
應(yīng)用方向及領(lǐng)域:
1,、各種薄膜、離型膜,、淋膜!I等硅油涂布量的測定,;
2、各種薄膜生產(chǎn)過程中Si,、AI元素等比例量的測定,;
3、電子產(chǎn)品S硫化物的殘留余量的測定,;
4,、電子產(chǎn)品保護膜硅油殘余量的測定。
尺寸 : | 467×370×336(mm) | 重量 : | 40kg |
適用范圍 : | 薄膜,、硅油涂布 | 樣品腔尺寸 : | 310×248×124(mm) |
暫無數(shù)據(jù),!