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HCX09A薄膜熱物性測(cè)試儀
該儀器用于測(cè)試薄膜材料熱物性參數(shù)。薄膜物理指出當(dāng)物體很薄時(shí),,同樣材料薄膜狀態(tài)的物性與容積狀態(tài)的物性不一定相同,,因此對(duì)薄膜物性的測(cè)量必須在薄膜狀態(tài)下進(jìn)行,。根據(jù)物體表面溫度按余弦(或正弦)規(guī)律變化時(shí)的瞬態(tài)實(shí)驗(yàn)?zāi)P汀2捎脺囟炔ǚ▉頊y(cè)試薄膜材料的熱物性參數(shù),,由于薄膜是有限厚的一維模型,。在這一狀態(tài)下,當(dāng)溫度振蕩頻率達(dá)到一定值后,,利用樣品上,、下表面溫度的相位差計(jì)算導(dǎo)溫系數(shù)或?qū)嵯禂?shù)。儀器專用于研究薄膜材料熱物性特性,。
技術(shù)參數(shù):
HCX09A薄膜熱物性測(cè)試儀
該儀器用于測(cè)試薄膜材料熱物性參數(shù),。薄膜物理指出當(dāng)物體很薄時(shí),同樣材料薄膜狀態(tài)的物性與容積狀態(tài)的物性不一定相同,,因此對(duì)薄膜物性的測(cè)量必須在薄膜狀態(tài)下進(jìn)行,。根據(jù)物體表面溫度按余弦(或正弦)規(guī)律變化時(shí)的瞬態(tài)實(shí)驗(yàn)?zāi)P汀2捎脺囟炔ǚ▉頊y(cè)試薄膜材料的熱物性參數(shù),,由于薄膜是有限厚的一維模型,。在這一狀態(tài)下,當(dāng)溫度振蕩頻率達(dá)到一定值后,,利用樣品上,、下表面溫度的相位差計(jì)算導(dǎo)溫系數(shù)或?qū)嵯禂?shù)。儀器專用于研究薄膜材料熱物性特性,。
主要技術(shù)參數(shù):
1.導(dǎo)熱系數(shù)范圍:0.05~20w/m•k
2.儀器實(shí)現(xiàn)數(shù)字化測(cè)溫,,精度優(yōu)于0.2級(jí)。
3.測(cè)量結(jié)果,,準(zhǔn)確度 ±3%
4.計(jì)量加熱功率可調(diào)節(jié)±1%,。
5.樣尺寸要求:圓柱體¢15--30*5--30mm .
6.溫度和保護(hù)氣氛按用戶要求定制。
7.配接計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測(cè)試分析,。
暫無數(shù)據(jù),!