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儀器簡介：
ESPI（Eletronic Speckle Pattern Interferometry）電子散斑干涉技術(shù)是以激光散斑作為被測物場變化信息的載體,，利用被測物體在受到激光照射后產(chǎn)生干涉散斑場的相關(guān)條紋來檢測雙光束波前后之間的相位變化。
電子散斑干涉技術(shù)（ESPI）是一種非接觸式全場實時測量技術(shù),，可完成位移,、應(yīng)變、表面缺陷和裂紋等多種測試,，其具有通用性強(qiáng),、測量精度高、測量簡便等優(yōu)點,。
Dantec Q-300 TCT ESPI是丹迪公司研發(fā)生產(chǎn)的一款用于試件熱膨脹效應(yīng)的高靈敏度的三維位移,、變形和應(yīng)變分析的光學(xué)儀器。
技術(shù)參數(shù)：
測量維度：一維,、二維,、三維
測量區(qū)域：0.7mm×1mm—40mm×50mm
測量精度：位移（0.01—0.1μm可調(diào)），應(yīng)變（0.005%—100%）
加熱裝置：**300℃,，加熱功率200W,，加熱速度30℃/min
主要特點：
精度高、無接觸,、方便使用
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