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儀器簡介：
ESPI（Eletronic Speckle Pattern Interferometry）電子散斑干涉技術是以激光散斑作為被測物場變化信息的載體,，利用被測物體在受到激光照射后產(chǎn)生干涉散斑場的相關條紋來檢測雙光束波前后之間的相位變化,。
電子散斑干涉技術（ESPI）是一種非接觸式全場實時測量技術，可完成位移,、應變,、表面缺陷和裂紋等多種測試，其具有通用性強,、測量精度高,、測量簡便等優(yōu)點。
Dantec Q-300 TCT ESPI是丹迪公司研發(fā)生產(chǎn)的一款用于試件熱膨脹效應的高靈敏度的三維位移,、變形和應變分析的光學儀器,。
技術參數(shù)：
測量維度：一維、二維,、三維
測量區(qū)域：0.7mm×1mm—40mm×50mm
測量精度：位移（0.01—0.1μm可調）,，應變（0.005%—100%）
加熱裝置：**300℃，加熱功率200W,，加熱速度30℃/min
主要特點：
精度高,、無接觸、方便使用
暫無數(shù)據(jù),！
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