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X射線熒光鍍層測厚儀,,材料分析儀
X射線熒光鍍層測厚儀屬于菲希爾的產品,,HELMUT FISCHER(菲希爾)在涂層硬度側厚、鍍層硬度測厚,、材料分析,、微納米硬度測試和材料測試等領域為您提供***的產品和*完善的解決方案。
X射線熒光鍍層測厚儀產品用途:
由于能量色散X射線熒光光譜法可以分析材料成分和測量薄鍍層及鍍層系統(tǒng),,因而應用廣泛;
在電子和半導體產業(yè)里,,測量觸點上薄金,鉑和鎳層厚度或痕量分析,。
在鐘表和珠寶行業(yè)或采礦精煉工業(yè)中,,精確分析貴金屬合金組分。
在質量管控和來料檢驗中,,需要確保產品或零部件完全滿足材料設計規(guī)范,。如在太陽能光伏電池產業(yè)中,光伏薄膜的成分組成和厚度大小決定了光伏電池的效率,。在電鍍行業(yè)中,,則需要測量大批量部件的厚度,。
對于電子產品的生產者和采購者,檢驗產品是否符合《限制在電子電氣產品中使用有害物質的指令》(ROHS指令)也是十分關鍵的,。
在玩具工業(yè)中,,也需要有可靠的有害物質檢測手段
對于以上測量應用,菲希爾的FISCHERSCOPE X-射線光變儀都能**勝任,。
X射線熒光鍍層測厚儀,,材料分析儀也可測量金屬元素的等。
我司除了X射線熒光測厚儀還有元素分析儀,,金鎳厚度測量儀,,孔銅測厚儀,面銅測厚儀,,涂鍍層測厚儀,,臺式涂層鍍層測厚儀,銅箔測厚儀,,綠油測厚儀,,油墨測厚儀,各領域的測厚儀,。
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