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用途：
該儀器適用于高頻線路板特性和S參數(shù)阻抗測(cè)試,，為PCB制造廠商提供了一套快速、準(zhǔn)確,、標(biāo)準(zhǔn)和經(jīng)濟(jì)的TDR特性阻抗測(cè)試解決方案,；也可用于電線電纜的特性阻抗測(cè)試。
特征：
1,、精度：采用高精度探頭,、高頻同軸開關(guān)，以及時(shí)域反射,、同步高分辨率采樣和多點(diǎn)校準(zhǔn)等技術(shù),；
2、高效：測(cè)試步驟集成,，多任務(wù)一鍵測(cè)試；
3,、特色：可提供測(cè)試波形分析,、統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)分析、自動(dòng)記錄測(cè)試數(shù)據(jù),、自動(dòng)出具檢測(cè)報(bào)告并打印,，校準(zhǔn)功能開放。
技術(shù)參數(shù)：
項(xiàng)目 | TDR-ZK2130 | TDR-ZK3185 |
測(cè)試精度 | ±1%（50Ω） | |
檢測(cè)速度 | ≤1s/點(diǎn) | |
對(duì)象 | ①測(cè)量范圍： 20Ω～150 Ω | ①測(cè)量范圍： 20Ω—200Ω |
②測(cè)量長(zhǎng)度：0.05m～2m | ②測(cè)量長(zhǎng)度：0.02m～2m | |
帶寬 | 3GHz | 0.1GHz-8.5GHz |
損耗測(cè)試 | / | S參數(shù)測(cè)量 |
動(dòng)態(tài)范圍 | / | 可測(cè)量被測(cè)件的真實(shí)性能：＞100dB |
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