看了X射線熒光鍍層厚度測量儀STF-110的用戶又看了
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[SFT-110的主要特征]
1. 通過自動定位功能提高操作性 測量樣品時,,以往需花費(fèi)約10秒的樣品對焦,現(xiàn)在3秒內(nèi)即可完成,,大大提高樣品定位的操作性,。
2. 微區(qū)膜厚測量精度提高 通過縮小與樣品間的距離等,致使在微小準(zhǔn)直器(0.1,、0.2mm)下,,也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。
3. 多達(dá)5層的多鍍層測量 使用薄膜FP法軟件,,即使沒有厚度標(biāo)準(zhǔn)片也可進(jìn)行多達(dá)5層10元素的多鍍層測量,。
4. 廣域觀察系統(tǒng)(選配) 可從**250×200mm的樣品整體圖像指定測量位置。
5. 對應(yīng)大型印刷線路板(選配) 可對600×600mm的大型印刷線路板進(jìn)行測量,。
6. 低價位 與以往機(jī)型相比,,既提高了功能性又降低20%以上的價格。
[主要產(chǎn)品規(guī)格] | |
檢測器 | 比例計(jì)數(shù)管 |
X射線源 | 空冷式小型X射線管 |
準(zhǔn)直器 | 0.1,、0.2mmφ2種 |
樣品觀察 | CCD攝像頭 |
樣品臺移動量 | 250(X)×200(Y)mm |
樣品**高度 | 150mm |
暫無數(shù)據(jù),!