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Aep Technology NanoMap 1000WLI非接觸三維光學(xué)輪廓儀
儀器簡介:
提供了二維分析,、三維分析,、表面紋理分析、粗糙度分析,、波度分析,、PSD分析、體積,、角度計算,、曲率計算、模擬一維分析,、數(shù)據(jù)輸出,、數(shù)據(jù)自動動態(tài)存儲、自定義數(shù)據(jù)顯示格式等,。綜合繪圖軟件可以采集,、分析、處理和可視化數(shù)據(jù),。表面統(tǒng)計的計算包括峰值和谷值分析,。基于傅立葉變換的空間過濾工具使得高通,、低通,、通頻帶和帶阻能濾波器變的容易。多項式配置,、數(shù)據(jù)配置,、掃描、屏蔽和插值,。交互縮放,。X-Y和線段剖面。三維線路,、混合和固定繪圖,。用于階越高度測量的地區(qū)差異繪圖。
主要特點:
◆微觀二維(2D)和三維(3D)形貌輪廓獲取
◆多種測量功能
將采樣數(shù)據(jù)運算后,,可獲得精確定量的面積(空隙率,,缺陷密度,磨損輪廓截面積等),、體積(孔深,,點蝕,圖案化表面,,材料表面磨損體積以及球狀和環(huán)狀工件表面磨損體積等),、臺階高度,、線與面粗糙度,透明膜厚,、薄膜曲率半徑以及其它幾何參數(shù)等測量數(shù)據(jù),。
NanoMap 光學(xué)輪廓儀在0.1nm 到 10mm 的垂直掃描范圍內(nèi)提供了非接觸式高速高精度三維表面測量工能,縱向分辨率可達(dá)0.01nm,。具有**的自動化水平,,友好的用戶界面,以及業(yè)內(nèi)**的SPIP分析軟件系統(tǒng),。眾多先進技術(shù)的集成,、經(jīng)過長期實用驗證的測量技術(shù)核心以及適合于各種專業(yè)應(yīng)用需要的軟件功能,使 NanoMap 成為世界上***的光學(xué)干涉測量設(shè)備,,可滿足MEMS,、金屬研究、材料科學(xué),、半導(dǎo)體,、醫(yī)用器械等眾多領(lǐng)域科研和生產(chǎn)工作中對高精度自動化表面測量的需要。
特點:
能夠同時測量形貌和粗糙度
能夠測量小半徑和小角度
標(biāo)準(zhǔn)真實的顏色信息
提供360°的形狀和粗糙度測量
檢測具有不同表面表征的表面
測量性能:
表面形貌測量
粗糙度測量
表面波紋度,、輪廓度測量
體積測量與分析
二維圖像-截面曲線測量
部分技術(shù)參數(shù):
垂直分辨率:0.1nm
水平光學(xué)分辨率:3300nm
**掃描高度:mm
**掃描面積:mm2
應(yīng)用
汽車工業(yè)
工具和刀具
造紙與印刷
刑事偵察
摩擦與腐蝕
醫(yī)療器械
微電子工業(yè)
keyword:輪廓儀,、形貌儀、磨損體積測量儀,、臺階儀,、薄膜測厚儀、三維表面輪廓儀,、三維輪廓儀,、白光干涉儀、三維臺階儀,、三維薄膜分析儀,、三維形貌儀、三維粗糙度儀,、表面輪廓儀,、表面臺階儀、薄膜分析儀,、表面形貌儀,、表面粗糙度儀、非接觸式輪廓儀,、非接觸式臺階儀,、非接觸式表面形貌儀,、非接觸式表面粗糙度儀,、接觸式輪廓儀,、接觸式臺階儀、接觸式表面形貌儀,、接觸式表面粗糙度儀,、探針式輪廓儀、探針式臺階儀,、探針式表面形貌儀,、探針式表面粗糙度儀、雙模式輪廓儀,、雙模式臺階儀,、雙模式表面形貌儀、雙模式表面粗糙度儀,、三維表面輪廓儀,、三維表面臺階儀、三維表面形貌儀,、三維表面粗糙度儀
暫無數(shù)據(jù),!