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Amptek獲得**的“ C系列” X射線窗利用氮化硅(Si3N4)和鋁涂層來將我們的硅漂移檢測器(SDD)的低能量響應(yīng)擴(kuò)展到硼(Be),。
C1 Windows:實驗室,,臺式和手持式儀器。
C2 Windows:掃描電子顯微鏡(SEM)中的真空應(yīng)用程序和EDS(EDX),。C2窗在*低能量下具有更高的效率
C2窗FASTSDD測試Be和C譜圖
C2窗與聚合物窗效率對比
FASTSDD典型分辨率
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