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AXIS SUPRA X射線光電子能譜儀
Axis Supra 的設(shè)計理念是將樣品自動載入、光學(xué)顯微鏡輔助定位樣品分析位置和智能的數(shù)據(jù)采集,、處理等易用性集成于高端XPS,,并未由于高度自動化而喪失高性能。超高的靈敏度,、杰出的能量分辨和快速,、高空間分辨的成像滿足絕大多數(shù)高要求的應(yīng)用
技術(shù)特點
·大功率X光源和浸入式磁透鏡設(shè)計以獲取高的檢測靈敏度。
·大平均半徑的雙聚焦半球能量分析器,,可以獲得高的譜線能量分辨,。
·**二維陣列延遲線檢測器,可以同時記錄光電子的信號強度及其發(fā)射位置,,亦可以在數(shù)秒的時間里獲取完整的XPS譜圖,。
·**的同源中和器,具備無陰影荷電中和能力,且對于表面凸凹不平的樣品,,可實現(xiàn)精確電荷中和,。
·標(biāo)配單色化Al陽極,亦可選購單色化的Al/Ag雙陽極,,并且單色化陽極靶可以更換多個新鮮靶點,,極大地延長了陽極靶的使用壽命。
·標(biāo)配進(jìn)樣室定位光學(xué)顯微鏡,,可以在進(jìn)樣預(yù)抽真空時定位多樣品的分析位置,,然后轉(zhuǎn)入分析室實施自動分析。
暫無數(shù)據(jù),!