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多功能X熒光光譜儀(痕量元素分析+ELV(ROSH)+鍍層厚度測量)
應(yīng)用于:
•鉛隔汞鉻溴等有害元素痕量分析
•焊料合金成分分析和鍍層厚度測量
•電子產(chǎn)品中金和鈀鍍層的厚度測量
•五金電鍍,、CVD、PVD鍍層的厚度測量
•重金屬合金分析和牌號鑒定
產(chǎn)品特點:
結(jié)合大功率X射線管和高分辨率探測器,,能夠滿足多鍍層,、復(fù)雜樣品和微小測試面積的檢測需求。這款儀器的電制冷固態(tài)探測器良好的信躁比,,從而降低檢測下限,。探測器分辨率極高,能更容易地識別,、量化和區(qū)分相鄰的元素,。有害元素檢測結(jié)果可精確到ppm級,確保產(chǎn)品滿足環(huán)保要求,,幫助企業(yè)降低高昂的產(chǎn)品召回成本和法令執(zhí)行成本,。您可以針對您的應(yīng)用選擇*合適的分析模型:經(jīng)驗系數(shù)法、基本參數(shù)法或兩者結(jié)合,。這款儀器能對電子產(chǎn)品上的關(guān)鍵組裝區(qū)域進(jìn)行快速篩選性檢測,。一旦識別出問題區(qū)域,即可對特定小點進(jìn)行定量分析,。大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規(guī)則的樣品,,大艙門使樣品更易放入。
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