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多功能X熒光光譜儀(痕量元素分析+ELV(ROSH)+鍍層厚度測(cè)量)
應(yīng)用于:
•鉛隔汞鉻溴等有害元素痕量分析
•焊料合金成分分析和鍍層厚度測(cè)量
•電子產(chǎn)品中金和鈀鍍層的厚度測(cè)量
•五金電鍍、CVD,、PVD鍍層的厚度測(cè)量
•重金屬合金分析和牌號(hào)鑒定
產(chǎn)品特點(diǎn):
結(jié)合大功率X射線管和高分辨率探測(cè)器,,能夠滿足多鍍層、復(fù)雜樣品和微小測(cè)試面積的檢測(cè)需求,。這款儀器的電制冷固態(tài)探測(cè)器良好的信躁比,,從而降低檢測(cè)下限。探測(cè)器分辨率極高,,能更容易地識(shí)別,、量化和區(qū)分相鄰的元素。有害元素檢測(cè)結(jié)果可精確到ppm級(jí),,確保產(chǎn)品滿足環(huán)保要求,,幫助企業(yè)降低高昂的產(chǎn)品召回成本和法令執(zhí)行成本。您可以針對(duì)您的應(yīng)用選擇*合適的分析模型:經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法,、基本參數(shù)法或兩者結(jié)合,。這款儀器能對(duì)電子產(chǎn)品上的關(guān)鍵組裝區(qū)域進(jìn)行快速篩選性檢測(cè)。一旦識(shí)別出問題區(qū)域,即可對(duì)特定小點(diǎn)進(jìn)行定量分析,。大型樣品艙能夠靈活地檢測(cè)大件或形狀不規(guī)則的樣品,,大艙門使樣品更易放入。
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