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MMR Hall Effect Measurement System
controlled continuously variable temperature
MMR可控連續(xù)變溫霍爾效應(yīng)測試系統(tǒng)
1. 功能描述: 測量半導(dǎo)體薄膜中載流子類型、載流子濃度,、遷移率,、電阻率,、霍爾系數(shù)等參數(shù)
2. 測試范圍: Si, SiGe,, SiC,, GaAs,, InGaAs,, InP, GaN (N Type & P Type)等材質(zhì)的半導(dǎo)體薄膜中載流子類型,、載流子濃度,、 遷移率、電阻率,、霍爾系數(shù)等參數(shù),。
3. 磁場強(qiáng)度:0.5T 電磁場,磁場強(qiáng)度可以定制選擇
4. 溫度區(qū)域: 70K ~730K,; 80K ~580K,; 80K ~730K; 300K ~730K
5. 電阻率范圍:10-6~1013 Ohm*cm
6. 電阻范圍:10 m Ohms~ 10G Ohms
7. 載流子濃度:102~1022cm-3
8. 遷移率: 10-2~109 cm2/volt*sec
儀器優(yōu)點(diǎn):
1. 采用van der Pauw法測試;
2. **可測25mmX25mm樣品,,提供兩種樣品裝載方式:彈簧探針,、引線治具,以及兩個(gè)杜瓦瓶:全封閉和帶玻璃窗口各一 個(gè);
3. 配備電腦和相應(yīng)的控制軟件,,測試過程以及設(shè)備內(nèi)各個(gè)單元均由軟件控制,,永磁體需要手動翻轉(zhuǎn)樣品,電磁場測試過程全自 動,。測試數(shù)據(jù)能夠方便的儲存和導(dǎo)出;
4. 模塊化設(shè)計(jì),,可升級到溫度范圍更廣、磁場更大的系統(tǒng),,也可升級成塞貝克測量系統(tǒng);
5. 測試過程中,,由于致冷或加熱所引起的樣品振動幅度在um量級或更優(yōu);
6. 在同一個(gè)樣品室下進(jìn)行變溫霍爾效應(yīng)的測試,**變溫范圍70K~730K,。避免更換樣品室給測試帶來的不方便性和不連貫 性,,其他品牌低溫和高溫需要在高溫和低溫兩個(gè)樣品室下測試
7.允許在一定氣體環(huán)境下測試
8.提供石英透明窗口,可以測試光激發(fā)下電阻率
暫無數(shù)據(jù),!