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NETZSCH德國(guó)耐馳激光法導(dǎo)熱儀LFA 457 MicroFlash
NETZSCH德國(guó)耐馳激光法導(dǎo)熱儀LFA 457 MicroFlash

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德國(guó)

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柜谷科技發(fā)展(上海)有限公司

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激光閃射法用于測(cè)量固體,、粉末與液體樣品的熱擴(kuò)散系數(shù)與導(dǎo)熱系數(shù)。該方法使用一束短促的激光脈沖加熱樣品正面,,通過(guò)紅外 檢測(cè)器測(cè)量樣品背面溫度升高與時(shí)間的關(guān)系,,得到樣品的熱擴(kuò)散系數(shù)與導(dǎo)熱系數(shù)。這一非接觸式與非破壞式的測(cè)量技術(shù)具有樣品 制備簡(jiǎn)易,,所需樣品體積小,,測(cè)量速度快,測(cè)量精度高等眾多優(yōu)點(diǎn),。

NETZSCH LFA 457 MicroFlash® 代表了當(dāng)代激光閃射測(cè)量技術(shù)的**進(jìn)展,。儀器為桌上型,溫度范圍 -125 ... 1100°C,。為了覆蓋這一溫度范圍,,提供了兩種可自由切換的爐體。

系統(tǒng)所使用的全新的紅外傳感器技術(shù)使得用戶甚至可以在 -125°C 的低溫下測(cè)量樣品背部的溫升曲線,。

儀器既可使用內(nèi)置的自動(dòng)樣品切換器在一次升溫中對(duì)多個(gè)較小的樣品進(jìn)行測(cè)量,,也可單獨(dú)測(cè)量較大的樣品(**直徑 25.4mm)。

真空密閉系統(tǒng)使得儀器可以在多種用戶可選的氣氛中進(jìn)行測(cè)量,。

樣品支架,、爐體與檢測(cè)器的垂直式排布方便了樣品的放置與更換,同時(shí)使得檢測(cè)信號(hào)擁有**的信噪比,。

LFA 457 是*強(qiáng)大與靈活的 LFA 系統(tǒng),,適用于包括汽車制造、航空航天與能源技術(shù)在內(nèi)的各種領(lǐng)域的常規(guī)材料與新型高性能材料的表征,。

LFA 457 MicroFlash® - 技術(shù)參數(shù)

• 溫度范圍: -125 … 1100°C(不同爐體)

• 激光源:Nd:Glass 激光,,能量可調(diào)

• 導(dǎo)熱系數(shù): 0.1 ... 2000W/mK

• 真空度: 10-2 mbar

• 樣品尺寸:方形 8 x 8mm,10 x 10mm 圓形 ?6mm,?10mm,,?12.7mm,,?25.4mm 厚度 0.1 … 6mm

• 測(cè)試氣氛: 真空、惰性或反應(yīng)氣體

• 支架類型: 石墨,、氧化鋁,、碳化硅

• 樣品形態(tài): 固體、液體,、粉末,、薄膜

• 自動(dòng)進(jìn)樣器:1 或 3 個(gè)樣品位

LFA 457 MicroFlash® - 軟件功能
LFA 457 MicroFlash® 的測(cè)量與分析軟件是基于 MicroSoft Windows® 系統(tǒng)的 Proteus® 軟件包,它包含了所有必要的測(cè)量功能和數(shù)據(jù)分析功能,。這一軟件包具有極其友善的用戶界面,包括易于理解的菜單操作和自動(dòng)操作流程,,并且適用于各種復(fù)雜的分析,。Proteus 軟件既可安裝在儀器的控制電腦上聯(lián)機(jī)工作,也可安裝在其他電腦上脫機(jī)使用,。

LFA 部分軟件功能:

• 精確的脈沖寬度修正與脈沖能量積分,。

• 熱損耗修正。

• 集成了所有傳統(tǒng)模型,。

• 使用非線性回歸進(jìn)行 Cowan 擬合,。

• 改進(jìn)的 Cape-Lehmann 模型,使用非線性回歸,,將多維熱損耗納入計(jì)算,。

• 對(duì)于半透明樣品的輻射修正。

• 二層與三層結(jié)構(gòu)樣品:通過(guò)非線性回歸方式進(jìn)行擬合,,并將熱損耗納入計(jì)算,。

• 計(jì)算多層樣品的接觸熱阻。

• 比熱測(cè)量:使用已知比熱的標(biāo)樣,、通過(guò)比較法進(jìn)行計(jì)算,。

• 內(nèi)置數(shù)據(jù)庫(kù)。

LFA 457 MicroFlash® - 應(yīng)用實(shí)例

多晶石墨

使用配有低溫系統(tǒng)的 LFA 457 對(duì)多晶石墨進(jìn)行了測(cè)試,,測(cè)試曲線上材料在室溫附近導(dǎo)熱系數(shù)達(dá)到**,,一般解釋為由于該材料的 Debye 溫度較高(> 1000 K)所致。在峰值右側(cè)的高溫區(qū)域,,熱擴(kuò)散系數(shù)隨溫度上升而下降得比較快,,主導(dǎo)了該區(qū)域的導(dǎo)熱系數(shù)變化的趨勢(shì)。峰值左側(cè)的低溫區(qū)則比熱下降的非???,這主導(dǎo)了低溫下該材料的導(dǎo)熱系數(shù)隨溫度變化的趨勢(shì)。

聚碳酸酯

聚碳酸酯(PC)是一種非常常見(jiàn)的聚合物材料,常用于電動(dòng)工具包裝,。為了通過(guò)有限元素模擬的方法以優(yōu)化生產(chǎn)/模制工藝,,需要知道它的熱物性參數(shù)。如果使用 LFA 457 的熔融樣品容器,,則不僅能測(cè)得固態(tài)下,、也能測(cè)得玻璃化轉(zhuǎn)變溫度以上(> 140°C)的材料的熱擴(kuò)散系數(shù)。若已知密度與比熱數(shù)據(jù)(可用 DSC 測(cè)試),,則可計(jì)算得到導(dǎo)熱系數(shù),。此外,在比熱曲線與熱擴(kuò)散曲線上還可以看到玻璃化轉(zhuǎn)變(在導(dǎo)熱系數(shù)曲線上則無(wú)法看到這一類似于二級(jí)相變的轉(zhuǎn)變過(guò)程),。

硅片-熱物理性質(zhì)

本例中,,硅片的物理性質(zhì)由 LFA 457 MicroFlash® 測(cè)試。從 -100℃ 到 500℃,,導(dǎo)熱性能和熱擴(kuò)散系數(shù)持續(xù)降低,。

比熱值用 DSC 204 F1 Phoenix® 測(cè)定。數(shù)據(jù)點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)偏差小于 1 %,。

Ag1-xPb18MTe20 - 導(dǎo)熱系數(shù)

下圖為 AgPb18Te20 150 oC到370 oC溫度范圍內(nèi)的導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試結(jié)果,。晶格導(dǎo)熱系數(shù)可以根據(jù)測(cè)試得到的導(dǎo)熱系數(shù)計(jì)算得到。AgPb18Te20的總導(dǎo)熱系數(shù)(λtot) 和晶格導(dǎo)熱系數(shù)(λlatt) 呈現(xiàn)出溫度依賴性,。

插圖為 Ag1-xPb18BiTe20 (x = 0,, 0.3) 和 AgPb18BiTe20 (用 + 表示) 的導(dǎo)熱系數(shù)溫度依賴性比較。

PbTe-Ge 和 PbTe-Ge1-xSix 合金導(dǎo)熱系數(shù)

在碲化鉛材料 PbTe-Ge 和 PbTe-Ge1-xSix 中,,通過(guò)調(diào)整 Ge 和 Si 的含量可以很容易調(diào)節(jié)合金的導(dǎo)熱系數(shù),。

下圖結(jié)果是在 25℃ 到 320℃ 溫度范圍內(nèi)獲得。圖A 顯示 Ge 不同的含量對(duì) PbTe 的晶格導(dǎo)熱系數(shù)有很大的影響,。在整個(gè)溫度范圍內(nèi),,隨著 Ge 含量的降低,晶格導(dǎo)熱系數(shù)降低,。另外,,在上述體系加入 Si 元素后,晶格導(dǎo)熱系數(shù)進(jìn)一步降低(圖B),。當(dāng) Ge 和 Si 的混合比例不變,,將 Ge0.8Si0.2 含量降低時(shí),可以看到類似的行為(圖C),。圖D 顯示當(dāng)Ge-/Ge-si 的比例為 5% 時(shí)能夠得到**晶格導(dǎo)熱系數(shù),。

LFA 457 MicroFlash® - 相關(guān)附件

LFA 457 MicroFlash® 配有恒溫水浴,以保證溫度與長(zhǎng)時(shí)間工作的穩(wěn)定性,。

提供多種類型的真空泵,,可以使得測(cè)試在真空或純凈無(wú)氧的惰性氣氛下進(jìn)行,。

流量計(jì),用于調(diào)節(jié)吹掃氣體的流量,。

由 SiC 或石墨制成的樣品支架與樣品罩,,適用于標(biāo)準(zhǔn)樣品尺寸。

提供由鉑金,、鋁,、藍(lán)寶石等材料制成的多種類型不同尺寸的樣品支架或樣品容器,用于測(cè)量液體樣品,、熔融金屬,、礦渣與纖維等特殊樣品。

提供用于熱擴(kuò)散系數(shù)驗(yàn)證的標(biāo)準(zhǔn)樣品,。

提供用于比熱測(cè)試的參比樣品,。

制樣設(shè)備。

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