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一、主要特點(diǎn)
(1),、可對(duì)F(9)-Fm(100)(次ppm~100%)進(jìn)行無損定性,、定量分析；
(2),、6款管濾光片,，更快更精確的測(cè)定微量及痕量元素；
(3),、可配置硅漂移探測(cè)器SDD (分辨率為129eV),，適于高和低原子序數(shù)的元素分析檢測(cè)；
(4),、外型堅(jiān)固耐用,，適于移動(dòng)實(shí)驗(yàn)室，符合沖擊試驗(yàn)MIL810E規(guī)格,；
(5),、配備集成電腦、專業(yè)nEXt™分析軟件,，操作方便,；
二、主要技術(shù)參數(shù)
系統(tǒng)規(guī)格 | PD 版本 | SDD 版本 |
測(cè)量范圍 | Na(11) - Fm(100) | F(9) - Fm(100) |
測(cè)量濃度 | ppm -100% | 次 ppm -100% |
X-射線管靶材 | Rh靶 (Ag/Mo/W/Pd靶) | |
X-射線管電壓/功率 | 35 kV,， 9W | 40 kV,， 18 W |
激發(fā)類型 | 直接激發(fā)，管濾光片 | |
探測(cè)器 | 電制冷PIN二極管 | 硅漂移探測(cè)器SDD |
分辨率(FWHM) | 155 eV ± 10 eV | 129 eV ± 5eV |
自動(dòng)進(jìn)樣器 | 8位 | |
工作環(huán)境 | 空氣/真空/氦氣 | |
管濾光片 | 6款軟件可選 | |
操作軟件 | nEXt™分析包(包含基礎(chǔ)基本參數(shù)法),，Microsoft Windows™ OS操作系統(tǒng),。 | |
報(bào)告 | 用戶自定義數(shù)據(jù)打印輸出 | |
選配件 | 16位自動(dòng)進(jìn)樣器、專業(yè)基本參數(shù)法,、氦氣凈化器,、CCD攝像頭等 | |
三,、應(yīng)用領(lǐng)域
石油化工、冶金/合金樣品
環(huán)境,、石油/燃料/柴油等,、醫(yī)藥生物化學(xué)等
礦產(chǎn)地質(zhì)(含稀土元素)、貴金屬檢測(cè),、法鑒
暫無數(shù)據(jù),！
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