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一、主要特點
(1),、可對C(6)-Fm(100)(次ppm~100%)進行無損定性,、定量分析；
(2),、采用**WAG(Wide Angle Geometry)技術,，配備8個二次靶；
(3),、8款管濾光片,，更快更精確的測定微量及痕量元素；
(4),、標準配置硅漂移探測器SDD,，適于高和低原子序數(shù)的元素分析檢測,；
(5)、針對輕原子序數(shù)元素,，可配備分辨率達123eV的SDD LE探測器,；
(6)、外型堅固耐用,，適于移動實驗室,，符合沖擊試驗MIL810E規(guī)格；
(7),、檢測光斑可變,，適于不同尺寸和形狀的樣品檢測；
(8),、配備集成電腦,、專業(yè)nEXt™分析軟件，操作方便,；
二,、二次靶激發(fā)技術介紹
二次靶激發(fā)技術能**程度的去除散射背景，提高信噪比,，降低檢測器的檢測限,。如圖，樣品為含少量Cr,，Mn,，Fe雜質(zhì)的Ni合金。當直接激發(fā)時(綠),，雜質(zhì)元素的吸收信號被Ni元素的吸收信號淹沒,；相反，使用Ni二次靶激發(fā)時,，雜質(zhì)元素的吸收信號被大大加強,。
三、主要技術參數(shù)
系統(tǒng)規(guī)格 | SDD 版本 | SDD LE |
測量范圍 | F(9) - Fm(100) | C(6) - Fm(100) |
測量濃度 | 次 ppm -100% | |
X-射線管靶材 | Rh靶 | |
X-射線管電壓/功率 | 50kV,， 50W | |
激發(fā)類型 | 直接激發(fā)和二次靶激發(fā) | |
探測器 | 硅漂移探測器SDD | 超級 SDD |
分辨率(FWHM) | 129eV ± 5eV | 123eV ± 5eV |
自動進樣器 | 8位 | |
工作環(huán)境 | 空氣/真空/氦氣 | |
管濾光片 | 8款軟件可選 | |
二次靶 | 8種 | |
操作軟件 | nEXt™分析包(包含基礎基本參數(shù)法) | |
選配件 | 16位自動進樣器,、專業(yè)基本參數(shù)法、真空泵,、氦氣凈化器等 | |
暫無數(shù)據(jù),！
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