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產(chǎn)地
美國(guó)樣本
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PS50型三維表面形貌儀是一款科研版的三維表面形貌測(cè)量設(shè)備,,采用國(guó)際**的白光共聚焦技術(shù),可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面從納米到毫米量級(jí)的粗糙度測(cè)試,,具有測(cè)量精度高,,速度快,重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn),,該儀器性價(jià)比高,,可用于取代傳統(tǒng)的探針式表面形貌儀與干涉式表面形貌儀。
產(chǎn)品特性
采用白光共聚焦色差技術(shù),,可獲得納米級(jí)的分辨率
測(cè)量具有非破壞性,,測(cè)量速度快,精確度高
測(cè)量范圍廣,,可測(cè)透明,、金屬材料,半透明,、高漫反射,,低反射率、拋 光,、粗糙材料(金屬,、玻璃、木頭,、合成材料,、光學(xué)材料、塑料、涂層,、涂料,、漆、紙,、皮膚,、頭發(fā)、牙齒…),;
尤其適合測(cè)量高坡度高曲折度的材料表面
不受環(huán)境光的影響
測(cè)量簡(jiǎn)單,,樣品無需特殊處理
Z方向,測(cè)量范圍大:為27mm
主要技術(shù)參數(shù)
掃描范圍:50×50(mm)
掃描步長(zhǎng):0.1μm
掃描速度:20mm/s
Z方向測(cè)量范圍:27mm
Z方向測(cè)量分辨率:2nm
產(chǎn)品應(yīng)用
MEMS,、半導(dǎo)體材料,、太陽能、摩擦磨損,、汽車,、腐蝕、砂紙,、巖石等,。
暫無數(shù)據(jù)!