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PS50型三維表面形貌儀是一款科研版的三維表面形貌測量設(shè)備,，采用國際**的白光共聚焦技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級(jí)的粗糙度測試,，具有測量精度高,，速度快,，重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn)，該儀器性價(jià)比高,，可用于取代傳統(tǒng)的探針式表面形貌儀與干涉式表面形貌儀,。

產(chǎn)品特性

采用白光共聚焦色差技術(shù)，可獲得納米級(jí)的分辨率

測量具有非破壞性,，測量速度快,，精確度高

測量范圍廣，可測透明,、金屬材料,，半透明、高漫反射,，低反射率,、拋 光、粗糙材料(金屬,、玻璃,、木頭、合成材料,、光學(xué)材料,、塑料、涂層,、涂料,、漆、紙,、皮膚,、頭發(fā)、牙齒…),；

尤其適合測量高坡度高曲折度的材料表面

不受環(huán)境光的影響

測量簡單,，樣品無需特殊處理

Z方向，測量范圍大：為27mm

主要技術(shù)參數(shù)

掃描范圍：50×50（mm）

掃描步長：0.1μm

掃描速度：20mm/s

Z方向測量范圍：27mm

Z方向測量分辨率：2nm

產(chǎn)品應(yīng)用

MEMS,、半導(dǎo)體材料,、太陽能、摩擦磨損,、汽車、腐蝕,、砂紙,、巖石等。