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技術(shù)參數(shù)：

樣品室

樣品類(lèi)型 固體,、粉末、液體,、濾渣,、鍍層和其它

尺寸 30.5cm(w)x38.9cm(D)x6.6cm(H)

增高室(選購(gòu)件): 21.5cm或37.1cm

單位盤(pán) 樣品可大至樣品室大小

10位盤(pán)(選購(gòu)件) 帶自轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)，樣品可大至47mm

20位盤(pán)(選購(gòu)件) 樣品可大至31mm

自動(dòng)和手動(dòng)盤(pán) 為特種樣品專(zhuān)用的樣品盤(pán),，選購(gòu)件

環(huán)境 空氣,、真空(選購(gòu)件)和充氦(選購(gòu)件)

激發(fā)

X-光管 超高通量，端窗,，RH靶,，76um鈹窗，空氣冷卻,，其它靶可選

X-光發(fā)生器 4-50KV,，1KV間隔。O.02-2.OmA,，0.02mA 間隔

濾光片 7種濾光片加1空位,，自動(dòng)選擇

準(zhǔn)直器(選購(gòu)件) 1.0、2.0,、3.5,、6.8和8.8 五種

檢測(cè)配置器 Si(Li)電致冷 Si(Li)面積15mm2，分辨率<155 ev

Si(Li)LN Si(Li)面積30mm2,，分辨率<149 ev

數(shù)據(jù)采集

數(shù)字脈沖處理器 全部參數(shù)程序控制,，自動(dòng)能量校正

多道脈沖分析器 32位，4096道多道分析器

數(shù)據(jù)接口 計(jì)算機(jī)以太網(wǎng)接口

分析處理器和WinTrace

計(jì)算機(jī)／打印機(jī) 主流計(jì)算機(jī)和彩色打印機(jī)

顯示 X-射線能譜,，重疊譜比較,，峰鑒定標(biāo)記，分析參數(shù)

輸出 監(jiān)視器,，圖形打印機(jī)和調(diào)制解調(diào)器

自動(dòng)化 樣品室環(huán)境,，X一射線源輸出，濾光片選擇,，多次激發(fā)條件,，

和樣品選擇

譜處理 自動(dòng)元素鑒定,，數(shù)字濾波本底扣除，*小二乘法經(jīng)驗(yàn)峰去卷積,，

總峰強(qiáng)度,，和凈峰強(qiáng)度

分析技術(shù) 經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法和基本參數(shù)法，歸一化,，校正曲線圖顯示

操作系統(tǒng) 微軟WindowsXP及更新的版本

尺寸和重量 外形尺寸 寬71.88cm,，高41.15cm，深59.18cm

重量 90.7kg

使用要求

電源 100,、115或230VAC,，50或60hz，功率1000W,，真空泵需2000W

電話 遙控診斷和遙控監(jiān)測(cè)需要通過(guò)因特網(wǎng)連線

環(huán)境要求

溫度 O～32℃

濕度 20～80％RH(無(wú)冷凝水)

參考方法

ASTM方法

D5839-96(2001) X-熒光能譜法測(cè)定危險(xiǎn)廢燃料中痕量元素的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

D6052.97 X-熒光能譜法對(duì)液體危險(xiǎn)廢料中元素分析的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

主要特點(diǎn)：

超大Si(Li) 晶體,，具有極高的痕量分析的靈敏度，打破lng的檢測(cè)限壁壘

全數(shù)字脈沖處理器技術(shù),，死時(shí)間達(dá)60%,， 以及優(yōu)異的峰背比

高級(jí)FP無(wú)標(biāo)樣分析軟件，進(jìn)行無(wú)標(biāo)樣分析,，減少對(duì)標(biāo)樣的依賴(lài)性

高靈敏電制冷Si(Li) 探測(cè)器技術(shù),， 儀器免維護(hù)和零費(fèi)用運(yùn)行

超大樣品室，可容納300mm400mm的樣品

全自動(dòng)校準(zhǔn),，自動(dòng)監(jiān)測(cè),，自動(dòng)報(bào)警系統(tǒng)，完全計(jì)算機(jī)控制

鍍層和薄膜測(cè)量技術(shù),， 具有無(wú)標(biāo)樣分析測(cè)厚技術(shù)

ARL QUANT'X 應(yīng)用

* 用于美國(guó)H.R.4040(HR4040)法規(guī)檢測(cè)（2009年8月實(shí)施）

【2008年8月14日,，美議會(huì)第4040號(hào)提案（H.R.4040）生效，此法案對(duì)美國(guó)消費(fèi)品委員會(huì)（CPSC）進(jìn)行了重新授權(quán),， 大大加強(qiáng)了CPSC在保證美國(guó)消費(fèi)品安全中的作用,，尤其是對(duì)兒童玩具及護(hù)理產(chǎn)品的要求達(dá)到了****的高度。H.R.4040有幾項(xiàng)重大變化：檢測(cè)范圍擴(kuò)大至玩具上任何可觸及材料,；總鉛限呈逐級(jí)遞減,，由600ppm，2009年8月14日起降至300ppm,， 2011年8月14日降至100ppm。而兒童產(chǎn)品中油漆等表面涂層材料的要求更為嚴(yán)格,，其總鉛限量將在2009年8月14日后銳減至 90ppm,。

H.R.4040不僅使玩具業(yè)會(huì)面臨更為嚴(yán)峻的法律環(huán)境，同時(shí)對(duì)玩具實(shí)驗(yàn)室也提出了更高的檢測(cè)要求,。標(biāo)準(zhǔn)的提高對(duì)檢測(cè)儀器的靈敏度,、精度,、 連續(xù)穩(wěn)定性也提出了更高的要求?！?

* ROHS檢測(cè),、RoHS & WEEE 指令分析 、HR4040標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)應(yīng)對(duì)

* 氣溶膠顆粒濾膜

* 刑偵以及痕量分析

* 營(yíng)養(yǎng)添加劑

* 磁性磁性介質(zhì)和半導(dǎo)體

高性能,，操作簡(jiǎn)便WinTrace軟件

直觀

功能強(qiáng)大

安全

操作靈活,，方便用戶(hù)