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儀器簡介
TXRF(全反射X熒光)分析原理是基于X熒光能譜法,,但與X射線能譜形成對比的是,,傳統(tǒng)能譜采用原級X光束以45°角轟擊樣品,而TXRF采用毫弧度的臨界角(接近于零度角)入射,。由于采用此種近于切線方向的入射角,,原級X光束幾乎可以全部被反射,,照射在樣品表面后,,可以很大程度上避免樣品載體吸收光束和減小散射的發(fā)生,同時減小了載體的背景和噪聲,,亦可減少樣品使用量,。
TX2000 將全反射和傳統(tǒng)的能量色散集成在同一臺儀器上,創(chuàng)新光學(xué)編碼器的步進(jìn)電機(jī),,保證精確角度測量,,軟件控制Mo/W靶可自由切換,采用高分辨,、低背景的帕爾貼控溫硅漂移檢測器,。
應(yīng)用范圍
TX2000 可檢測從鈉Na到钚Pu所有元素含量,,可進(jìn)行痕量或超痕量元素分析(ppt或pg),廣泛的應(yīng)用在環(huán)境分析(水,、灰塵,、沉積物、大氣懸浮物),,制藥分析(生物體液和組織樣品中的有害元素),,法醫(yī)學(xué)(微小證據(jù)分析),化學(xué)純度分析(酸,、堿,、鹽、溶劑,、水,、超純試劑),油品分析(原油,、輕質(zhì)油,、燃料油),染料分析(墨水,、油漆,、粉末),半導(dǎo)體材料分析(揮發(fā)相分解),,核材料工業(yè)(放射性元素分析),。
主要特點
■ 單內(nèi)標(biāo)校正,有效簡化了定量分析,,無基體影響,;
■ 對于任何基體的樣品可單獨進(jìn)行校準(zhǔn)和定量分析;
■ 多元素實時分析,,可進(jìn)行痕量和超痕量分析,;
■ 不受樣品的類型和不同應(yīng)用需求影響;
■ 獨特的液體或固體樣品的微量分析,,分析所需樣品量?。?/p>
■ 優(yōu)良的檢出限水平,,元素分析范圍從鈉覆蓋到钚,;
■ 出色的動態(tài)線性范圍;
■ 無需任何化學(xué)前處理,,無記憶效應(yīng),;
■ 非破壞性分析,運行成本低廉,。
暫無數(shù)據(jù),!