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Pascal(TOFLAS)
原子散亂表面分析儀器
尖端技術(shù) : 表面分析 & 元素分析
絕緣材料結(jié)晶表面分析
極性表面的極圖分析
*表面數(shù)層非常靈敏,，浮動狀態(tài)的電力類樣品也可以分析
表面結(jié)構(gòu)可視覺直觀評估
完全不受電場和磁場影響in-situ 分析
單一原子層或結(jié)晶尺度的成長監(jiān)測
薄膜， 超薄膜,， 單層薄膜,， 石墨烯 …等絕緣， 半導(dǎo)體 & 金屬
暫無數(shù)據(jù),！
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