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動(dòng)態(tài)光散射納米粒度及zeta電位分析儀原理

當(dāng)激光照射到分散于液體介質(zhì)中的微小顆粒時(shí)，由于顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)引起散射光的頻率偏移,，導(dǎo)致散射光信號(hào)隨時(shí)間發(fā)生動(dòng)態(tài)變化,，該變化的大小與顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)速度有關(guān)，而顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)速度又取決于顆粒粒徑的大小,，顆粒大布朗運(yùn)動(dòng)速度低,，反之顆粒小布朗運(yùn)動(dòng)速度高，因此動(dòng)態(tài)光散射納米粒度及zeta電位分析儀技術(shù)是分析樣品顆粒的散射光強(qiáng)隨時(shí)間的漲落規(guī)律,，使用光子探測器在固定的角度采集散射光,，通過相關(guān)器進(jìn)行自相關(guān)運(yùn)算得到相關(guān)函數(shù)，再經(jīng)過數(shù)學(xué)反演獲得顆粒粒徑信息,。

動(dòng)態(tài)光散射納米粒度及zeta電位分析儀性能特點(diǎn)

1,、高效的光路系統(tǒng)：采用固體激光器和一體化光纖技術(shù)集成的光路，充分滿足空間相干性的要求,，極大地提高了散射光信號(hào)的信噪比,。

2、高靈敏度光子探測器：采用計(jì)數(shù)型光電倍增管或雪崩光電二極管，對(duì)光子信號(hào)具有極高的靈敏度和信噪比,； 采用邊沿觸發(fā)模式對(duì)光子進(jìn)行計(jì)數(shù),，瞬間捕捉光子脈沖的變化。

3,、大動(dòng)態(tài)范圍高速光子相關(guān)器：采用高,、低速通道搭配的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)光子相關(guān)器，有效解決了硬件資源與通道數(shù)量之間的矛盾,，實(shí)現(xiàn)了大的動(dòng)態(tài)范圍,，并保證了相關(guān)函數(shù)基線的穩(wěn)定性。

4,、高精度溫控系統(tǒng)：基于半導(dǎo)體制冷技術(shù),，采用自適應(yīng)PID控制算法，使樣品池溫度控制精度達(dá)±0.1℃,。

5,、數(shù)據(jù)篩選功能：引入分位數(shù)檢測異常值的方法，鑒別受灰塵干擾的散射光數(shù)據(jù),，并剔除異常值,，提高粒度測量結(jié)果的準(zhǔn)確度。

6,、優(yōu)化的反演算法：采用**擬合累積反演算法計(jì)算平均粒徑及多分散系數(shù),，基于非負(fù)約束正則化算法反演顆粒粒度分布，測量結(jié)果的準(zhǔn)確度和重復(fù)性都優(yōu)于1%,。

納米粒度及zeta電位分析儀測量

納米粒度及zeta電位分析儀是表征分散體系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)zeta電位愈高,，顆粒間的相互排斥力越大，膠體體系愈穩(wěn)定,， 因此通過電泳光散射法測量zeta電位可以預(yù)測膠體的穩(wěn)定性,。

動(dòng)態(tài)光散射納米粒度及zeta電位分析儀原理

帶電顆粒在電場力作用下向電極反方向做電泳運(yùn)動(dòng)，單位電場強(qiáng)度下的電泳速度定義為電泳遷移率,。顆粒在電泳遷移時(shí),，會(huì)帶著緊密吸附層和部分?jǐn)U散層一起移動(dòng)，與液體之間形成滑動(dòng)面,，滑動(dòng)面與液體內(nèi)部的電位差即為zeta電位,。Zeta電位與電泳遷移率的關(guān)系遵循 Henry方程，通過測量顆粒在電場中的電泳遷移率就能得出顆粒的zeta電位,。

納米粒度及zeta電位分析儀性能特點(diǎn)

1.利用光纖技術(shù)集成發(fā)射光路和接收光路,，替代傳統(tǒng)電泳光散射的分立光路，使參考光和散射光信號(hào)的傳輸不受灰塵和外界雜散光的干擾,，有效地提高了信噪比和抗干擾能力,。

2.先對(duì)散射光信號(hào)進(jìn)行頻譜預(yù)分析,，獲取需要細(xì)化分析的頻譜范圍，然后在窄帶范圍內(nèi)進(jìn)行高分辨率的頻譜細(xì)化分析,，從而獲得準(zhǔn)確的散射光頻移,。

3.基于雙電層理論模型，求解顆粒的雙電層厚度,，獲得準(zhǔn)確的顆粒半徑與雙電層厚度的比值,，再利用*小二乘擬合算法獲得精確的Henry函數(shù)表達(dá)式，進(jìn)而有效提高了納米粒度及zeta電位分析儀的計(jì)算精度,。

Henry函數(shù)的取值：

當(dāng)雙電層厚度遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于顆粒的半徑,，即ka>>1,，Henry函數(shù)近似為1.5,。雙電層厚度遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于顆粒半徑時(shí)，即ka<<1,，Henry函數(shù)近似為1.0,。使用*小二乘曲線擬合算法對(duì)Wiersema計(jì)算的精確Henry函數(shù)值進(jìn)行擬合， 得到優(yōu)化Henry函數(shù)表達(dá)式.

強(qiáng)大易用的控制軟件

ZS-920系列納米粒度及zeta電位分析儀的控制軟件具有納米顆粒粒度和zeta電位測量功能,，一鍵式測量,，自動(dòng)調(diào)整散射光強(qiáng)， 無需用戶干涉,，自動(dòng)優(yōu)化光子相關(guān)器參數(shù),，以適應(yīng)不同樣品，讓測量變得如此輕松,?？刂栖浖哂袠?biāo)準(zhǔn)化操作(SOP)功能，讓不同實(shí)驗(yàn)室,、不同實(shí)驗(yàn)員間的測量按照同一標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行,，測量結(jié)果更具有可比性。測量完成自動(dòng)生成報(bào)表,，以可視化的方式展示測量結(jié)果,，讓測量結(jié)果一目了然。

動(dòng)態(tài)光散射納米粒度及zeta電位分析儀的技術(shù)指標(biāo)