掃描電子顯微鏡
SEM3100

SEM3100具有出色的成像質量和豐富的擴展性,，將鎢燈絲掃描電子顯微鏡的可用性,、易用性發(fā)揮到**。分辨率可達3 nm,，超大樣品倉,，可容納**直徑為370 mm的樣品，以及諸多細節(jié)功能設計和特色功能,，助您在顯微成像的世界中盡情探索,。

SEM3100是一款高性能的掃描電子顯微鏡，擁有超高的分辨率和出色的成像質量,。放大倍率連續(xù)可調(diào),，在不同的視場范圍下均可得到高亮度的清晰圖像。大景深,，成像富有立體感,。配備的超大樣品倉和低電壓模式,，極大地擴展了SEM3100的應用范圍。

豐富的擴展性

掃描電子顯微鏡不只用于表面形貌的觀察,，還可以進行樣品表面的微區(qū)成分分析,。SEM3100擁有超大的樣品倉，接口豐富,，除支持常規(guī)的二次電子探測器（ETD）,、背散射電子探測器（BSED）、能譜儀（EDS）外,，也預留了諸多接口,，諸如電子背散射衍射（EBSD）、波譜儀（WDS）,、陰極熒光（CL）等探測器都可以在SEM3100上進行集成,。
背散射探測器

二次電子成像和背散射成像對比。背散射像下,，樣品的荷電效應明顯減弱,，并且具有很好的成分襯度，適合進行成分觀察,。
[金屬表面污染物] [金屬鍍層] [口腔種植材料]
能譜分析

水泥建筑材料SE和EDS分析結果,，加速電壓15 kV
*微量Au元素為噴金后的鍍層