掃描電子顯微鏡
SEM3100

SEM3100具有出色的成像質(zhì)量和豐富的擴(kuò)展性，將鎢燈絲掃描電子顯微鏡的可用性,、易用性發(fā)揮到**,。分辨率可達(dá)3 nm，超大樣品倉,，可容納**直徑為370 mm的樣品,，以及諸多細(xì)節(jié)功能設(shè)計(jì)和特色功能，助您在顯微成像的世界中盡情探索,。

SEM3100是一款高性能的掃描電子顯微鏡,，擁有超高的分辨率和出色的成像質(zhì)量。放大倍率連續(xù)可調(diào),，在不同的視場(chǎng)范圍下均可得到高亮度的清晰圖像,。大景深，成像富有立體感,。配備的超大樣品倉和低電壓模式,，極大地?cái)U(kuò)展了SEM3100的應(yīng)用范圍。

豐富的擴(kuò)展性

掃描電子顯微鏡不只用于表面形貌的觀察,，還可以進(jìn)行樣品表面的微區(qū)成分分析,。SEM3100擁有超大的樣品倉，接口豐富，除支持常規(guī)的二次電子探測(cè)器（ETD）,、背散射電子探測(cè)器（BSED）,、能譜儀（EDS）外，也預(yù)留了諸多接口,，諸如電子背散射衍射（EBSD）,、波譜儀（WDS）,、陰極熒光（CL）等探測(cè)器都可以在SEM3100上進(jìn)行集成,。
背散射探測(cè)器

二次電子成像和背散射成像對(duì)比。背散射像下,，樣品的荷電效應(yīng)明顯減弱,，并且具有很好的成分襯度，適合進(jìn)行成分觀察,。
[金屬表面污染物] [金屬鍍層] [口腔種植材料]
能譜分析

水泥建筑材料SE和EDS分析結(jié)果,，加速電壓15 kV
*微量Au元素為噴金后的鍍層