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G-2900V品牌
金埃譜產(chǎn)地
武漢樣本
暫無誤差率：
±0.02%分辨率：
0.0001g/cc重現(xiàn)性：
0.01%儀器原理：
靜態(tài)容量法分散方式：
N測量時間：
5分鐘測量范圍：
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體積置換法，真密度測定,硬質(zhì)泡沫開孔率及閉孔率(孔隙率)測定
測量精度:測定精度±0.02%,重復(fù)性±0.01%,測試分辨率0.0001g/cc
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摘要：硬脂酸鎂是制藥界廣泛應(yīng)用的藥物輔料,，因為具有良好的抗粘性,、增流性和潤滑性在制劑生產(chǎn)中具有十分重要的作用，作為常用的藥用輔料潤滑劑,，比表面積對硬脂酸鎂有很大的影響,，硬脂酸鎂的比表面積越大,，其極性越
2022-07-05
陶瓷材料具有高熔點、高硬度,、高耐磨性,、耐氧化等一系列特點，被廣泛應(yīng)用于電子工業(yè),、汽車工業(yè),、紡織、化工,、航空航天等國民經(jīng)濟的各個領(lǐng)域,。陶瓷材料的物理性能很大程度上取決于其微觀結(jié)構(gòu)，是掃描電鏡重要的應(yīng)用領(lǐng)
2022-09-27
助力“土壤三普” | 氣體吸附技術(shù)在土壤膠體表征中的應(yīng)用 有關(guān)吸附等溫線中的滯后環(huán) 有關(guān)分子篩結(jié)構(gòu) 淺析BET BJH孔徑分布計算模型 有關(guān)BET測試中的常見問題（三） 有關(guān)BET測試中的常見問題（二） 有關(guān)BET測試中的常見問題（一） 動,、靜態(tài)吸附法比較 淺析吸附方式中的t-plot 
4月9日,，“國儀電鏡論壇暨內(nèi)蒙古工業(yè)大學(xué)國產(chǎn)電鏡技術(shù)講座”在內(nèi)蒙古工業(yè)大學(xué)實驗管理中心（測試中心）成功舉辦，吸引了來自周邊院校的多位電鏡領(lǐng)域?qū)＜覍W(xué)者參與,。本次論壇以“國產(chǎn)電鏡的發(fā)展與機遇”為主題,，聚焦
4月1日，由湖南大學(xué)分析測試中心與國儀量子聯(lián)合主辦,，深圳速普儀器有限公司,、長沙凱普樂科技有限責(zé)任公司協(xié)辦的“國儀電鏡論壇暨湖南大學(xué)電子顯微技術(shù)交流會”在湖南大學(xué)分析測試中心成功舉行。本次會議吸引了湖南
引言 為更好地激勵在科研領(lǐng)域辛勤探索,、努力拼搏的科研工作者，同時助力光探測磁共振事業(yè)發(fā)展,，國儀量子決定對使用本公司ODMR系列產(chǎn)品,，發(fā)表高水平學(xué)術(shù)文章的科研工作者給予現(xiàn)金獎勵。2025年OD
國儀量子電鏡在芯片金屬柵極刻蝕殘留檢測的應(yīng)用報告一,、背景介紹 在芯片制造工藝中,，金屬柵極刻蝕是構(gòu)建晶體管關(guān)鍵結(jié)構(gòu)的重要環(huán)節(jié)。精確的刻蝕工藝能夠確保金屬柵極的尺寸精度和形狀完整性,，對芯片的性能
國儀量子電鏡在芯片后道 Al 互連電遷移空洞檢測的應(yīng)用報告一,、背景介紹 隨著芯片集成度不斷攀升，芯片后道 Al 互連技術(shù)成為確保信號傳輸與芯片功能實現(xiàn)的關(guān)鍵環(huán)節(jié),。在芯片工作時,，Al 互連導(dǎo)線
國儀量子電鏡在芯片鈍化層開裂失效分析的應(yīng)用報告一、背景介紹在半導(dǎo)體芯片制造領(lǐng)域,，芯片鈍化層扮演著至關(guān)重要的角色,。它作為芯片的 “防護鎧甲”,，覆蓋在芯片表面，隔絕外界環(huán)境中的濕氣,、雜質(zhì)以及機械應(yīng)力等不利
針狀焦負(fù)極真密度測定的工作原理介紹,？針狀焦負(fù)極真密度測定的使用方法？針狀焦負(fù)極真密度測定多少錢一臺,？針狀焦負(fù)極真密度測定使用的注意事項針狀焦負(fù)極真密度測定的說明書有嗎,？針狀焦負(fù)極真密度測定的操作規(guī)程有嗎？針狀焦負(fù)極真密度測定的報價含票含運費嗎,？針狀焦負(fù)極真密度測定有現(xiàn)貨嗎,？針狀焦負(fù)極真密度測定包安裝嗎？
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