編號：NMJS02921
篇名：水含量對PI/SiO2納米雜化薄膜微觀結構的影響
作者：牛穎,； 張明艷,；
關鍵詞：聚酰亞胺； 二氧化硅,； 納米雜化,； 水含量,； 微觀形貌,；
機構： 大慶醫(yī)學高等�,？茖W校化學教研室,； 哈爾濱理工大學材料科學與工程學院,；
摘要： 用溶膠-凝膠法合成了聚酰亞胺/二氧化硅(PI/SiO2)納米雜化薄膜,并采用傅立葉變換紅外光譜(FT-IR)和掃描電子顯微鏡(SEM)分析水含量對PI/SiO2雜化薄膜的化學結構和微觀結構的影響。結果表明:水含量對PI/SiO2微觀結構影響很大,。當SiO2與水含量摩爾比為1∶6時,SiO2能均勻分散在PI基質(zhì)中,團聚的SiO2粒徑均小于20 nm。當SiO2與水含量摩爾比為1∶8時,部分團聚的SiO2粒徑超過100 nm,。
